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論壇
kla
KLA談5G對半導體及制造工藝的挑戰
EDA/PCB
KLA
5G
半導體
制造
工藝
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2022-08-23
KLA發布全新缺陷檢測與檢視產品組合
EDA/PCB
KLA
光學缺陷檢測
eDR7380?電子束缺陷檢
|
2019-07-09
本土汽車芯片制造如何提升可靠性？
EDA/PCB
KLA-Tencor
芯片
|
2018-12-03
MicroLED的市場趨勢及制造檢測挑戰
KLA-Tencor
Ravichander Rao
Mukund Raghunathan
201811
|
2018-10-25
KLA-Tencor宣布推出Kronos 1080和ICOS F160檢測系統： 拓展IC封裝產品系列
EDA/PCB
KLA-Tencor
封裝
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2018-09-21
KLA-Tencor：制程控制在源頭 助力客戶實現更大生產價值
EDA/PCB
KLA-Tencor
晶圓
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2017-11-17
KLA-Tencor宣布推出針對光學和EUV 空白光罩的全新FlashScanTM產品線
EDA/PCB
KLA-Tencor
EUV
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2017-08-17
KLA-Tencor為尖端集成電路器件技術推出全新量測系統
模擬技術
KLA-Tencor
集成電路
|
2017-03-15
KLA-Tencor 快速有效解決客戶良率問題與中國半導體行業一同成長
模擬技術
KLA-Tencor
IC
|
2016-11-30
KLA-Tencor 快速有效解決客戶良率問題 與中國半導體行業一同成長
模擬技術
KLA-Tencor
EUV
|
2016-11-29
Lam/KLA聯姻破局,半導體設備廠商只能合作？
模擬技術
Lam
KLA
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2016-10-08
KLA-Tencor 宣布推出新型光罩檢測系統
測試測量
KLA-Tencor
SL655
|
2016-08-25
KLA-Tencor 宣布推出新型光罩檢測系統
工控自動化
KLA-Tencor
晶圓
|
2016-08-20
KLA-Tencor 為領先的集成電路技術推出晶圓全面檢測與檢查系列產品
模擬技術
KLA-Tencor
晶圓
|
2016-07-13
KLA-Tencor 為先進半導體封裝推出新的系列產品
模擬技術
KLA-Tencor
半導體
|
2015-04-30
KLA-Tencor 以全新測量系統擴充其 5D? 圖型控制方案
測試測量
KLA-Tencor
Archer
|
2015-03-05
KLA-Tencor公司助力中國半導體產業發展
嵌入式系統
KLA-Tencor
LED
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2014-11-21
KLA-Tencor 推出 5D? 圖案成型控制解決方案的關鍵系統
嵌入式系統
KLA-Tencor
測量系統
Analyzer
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2014-09-01
KLA-Tencor 為領先的集成電路技術推出檢測與檢查系列產品
測試測量
KLA-Tencor
晶圓
檢測儀
|
2014-07-08
KLA-Tencor推出Teron? SL650 光罩檢測系統
EDA/PCB
KLA-Tencor
SL650
EUV
|
2014-05-22
KLA-Tencor宣布安裝處理450mm硅片的Surfscan?SP3系統
EDA/PCB
KLA-Tencor
Surfscan
硅片
|
2012-07-12
晶圓代工廠先進制程投資助力設備廠商業績前行
EDA/PCB
KLA-Tencor
晶圓代工
|
2011-11-03
VLSI Research公布第三季度半導體設備廠商前十名單
EDA/PCB
KLA-Tencor
半導體設備
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2010-12-16
KLA-Tencor以創新把握經濟復蘇機遇
EDA/PCB
KLA-Tencor
封測
高K金屬柵
3D晶體管
200910
|
2009-10-13
KLA-Tencor再度裁員10%
元件/連接器
KLA-Tencor
晶圓
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2009-04-01
KLA-TENCOR 推出用于測量等離子室效應的 PLASMAVOLT X2
測試測量
KLA-TENCOR
PLASMAVOLT
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2008-10-21
KLA-TENCOR 推出 PROLITHTM 12 新版計算光刻工具
EDA/PCB
KLA-TENCOR
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2008-10-13
科天推出磁盤驅動器基片和盤片缺陷檢查的新技術
網絡與存儲
硬盤
驅動器
KLA-Tencor
科天
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2008-09-25
KLA-TENCOR 推出全新控片檢測系統 SURFSCAN SP2XP
EDA/PCB
集成電路
IC
控片檢測系統
KLA-Tencor
|
2008-09-08
KLA-TENCOR推出新型 P-6 表面輪廓儀系統
電源與新能源
KLA-Tencor
表面輪廓儀
光電太陽能
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2008-07-17
KLA-Tencor推出可解決二次成像挑戰的首款計算光刻機
模擬技術
KLA-Tencor
光刻機
二次成像光刻
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2008-07-11
KLA-Tencor 推出第十代電子束偵測系統
測試測量
KLA-Tencor
電子束
偵測
半導體
微電子
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2008-07-09
突破性的 KLA-Tencor 技術--通過識別可印刷缺陷實現高等級光罩檢測
測試測量
KLA-Tencor
光罩檢測
32 納米
|
2008-04-25
KLA-Tencor 為晶片廠推出光罩檢查系統的全新 TeraFab 系列
物聯網與傳感器
KLA-Tencor
|
2008-03-15
KLA-Tencor 新推出的 Aleris 8500 薄膜度量系統
測試測量
KLA-Tencor
度量系統
芯片
測量工具
|
2008-01-04
KLA-Tencor新推出Aleris 8500薄膜度量系統
測試測量
KLA-Tencor
Aleris
芯片
測量工具
|
2007-12-26
KLA-Tencor推出達到關鍵性45nm晶片幾何度量要求的完整度量解決方案
測試測量
測試
測量
KLA-Tencor
半導體
晶片
MCU和嵌入式微處理器
|
2007-12-17
KLA-Tencor發布全新SURFmonitor系統
模擬技術
嵌入式系統
單片機
KLA-Tencor
SURFmonitor
嵌入式
|
2007-07-13
KLA-Tencor 發布高分辨率表面輪廓測量系統 HRP-350
測試測量
測試
測量
KLA-Tencor
表面輪廓測量系統
HRP-350
測試測量
|
2007-07-11
KLA-Tencor推出新一代電子束缺陷再檢查和分類系統
測試測量
KLA-Tencor
測量
測試
電子束
工業控制
工業控制
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