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        臺積電與CEA-Leti合作推動無光罩微影技術

        作者: 時間:2009-07-08 來源:DigiTimes 收藏

          為積極朝向制程技術前進,宣布與法國半導體研究機構CEA-Leti簽訂合作協議,將參與由CEA-Leti主持的IMAGINE產業研究計畫,就半導體制造中的無光罩進行合作,這項計畫為期3年。日前曾傳出,由于經濟前景不明,部分設備商延后制程技術研發,此舉則希望更積極主動推動無光罩

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/96019.htm

          這次參與的CEA-Leti IMAGINE研究計畫為期3年,所有參與這項計畫的公司都可取得無光罩微影架構供IC制造使用,也可以藉由設備商Mapper所提供的技術提高生產效率。這項研究計畫包涵了無光罩技術的設備評估、制像與制程整合、資料處理、原型制作與成本分析等多項技術。

          臺積電研發副總孫元成表示,推動具成本效益的,而發展無光罩微影技術即是潛在的解決方案之一。之前臺積電已宣布與Mapper一同開發多重電子束微影技術,供22納米及更先進的制程使用,這次藉由參與CEA-Leti的IMAGINE研究計畫,希望與半導體產業結盟,加速無光罩微影技術在IC制造領域的發展與推廣。

          CEA-Leti總執行長Laurent Malier也指出,微影技術是半導體產業的一項主要挑戰,未來采用無光罩的解決方案可提供彈性與得到機臺的成本優勢,同時與設備商Mapper相結合,也看到了提升生產效率的可能性。這次臺積電的加入對IMAGINE研究計劃相當重要,從臺積電的角度,不僅可強化制造可行性的評估,同時重量級業者參加,也將帶領無光罩微影技術邁向發展進程下一步,成為可運用在22納米制程的解決方案。

          臺積電日前表示,目前Fab12 P4已經導入機器設備,接下來將做為臺積電的研發總部,未來將投入28、22納米制程技術研發與先期量產工作。臺積電于45納米導入浸潤式微顯影(immersion lithography)也是與設備商ASML共同開發的成果,而在22納米制程技術以下,臺積電除了與ASML共同合作深紫外光(EUV)解決方案,也尋求無光罩微顯影的解決方案。



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