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        中國團隊研究解決了減少傳統硅基芯片尺寸的關鍵障礙

        作者:EEPW 時間:2024-07-25 來源:EEPW 收藏

        中國科學家們研發出一種超薄,這一進展可能會帶來更快、更節能的微芯片。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202407/461385.htm

        由北京大學的劉開輝、人民大學的劉燦和中國科學院物理研究所的張光宇領導的團隊,開發了一種制造方法,可以生產厚度僅為0.7納米的

        研究人員的發現于7月5日發表在同行評議期刊《科學》上,解決了減少傳統硅基芯片尺寸的關鍵障礙——隨著設備的縮小,硅芯片遇到了影響其性能的物理極限。

        這些科學家探討了二維(2D)過渡金屬二硫化物(TMDs)作為硅的替代品,其厚度僅為0.7納米,而傳統硅芯片的厚度通常為5-10納米。

        TMDs還消耗更少的能量,并具有優越的電子傳輸特性,使其成為下一代電子和光子芯片中超縮放晶體管的理想選擇。

        然而,生產TMDs一直是一個挑戰——直到現在。根據論文,科學家們開發的技術使他們能夠快速生產高質量的七種配方的2D晶體,從而使大規模生產成為可能。

        傳統的制造工藝涉及在基板上一層一層地組裝原子——就像用磚砌墻一樣——常常導致晶體純度不足,劉開輝告訴新華社。

        “這是由于晶體生長中不可控的原子排列以及雜質和缺陷的積累,”他說。

        團隊在基板上排列了第一層原子,就像他們在進行傳統工藝一樣。然而,隨后的原子被添加在基板和第一層晶體之間,像竹筍一樣向上推動形成新層。

        “界面生長”方法確保了每一層晶體的結構由下方的基板決定,這也有效防止了缺陷的積累并提高了結構的可控性。

        北京大學網站上的一份聲明稱,研究中展示的技術實現了每分鐘50層的晶體層形成速度,最多可達到15,000層。

        “每一層的原子排列都完全平行并且精確可控,”大學表示。

        團隊的高質量2D晶體包括二硫化鉬、二硒化鉬、二硫化鎢、二硒化鎢、二硫化鈮、二硒化鈮和硫硒化鉬。

        這些符合國際集成電路材料標準,包括國際設備和系統路線圖的電子遷移率目標和頻率轉換能力,研究人員表示。

        “這些2D晶體,作為集成電路中的晶體管材料使用時,可以顯著提高芯片集成度。在指甲大小的芯片上,晶體管的密度可以大幅增加,從而提升計算能力,”劉開輝說。



        關鍵詞: 半導體 材料

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