新聞中心

        EEPW首頁 > 測試測量 > 業界動態 > NanoPhotonics向ISMI出貨450mm晶圓檢測設備

        NanoPhotonics向ISMI出貨450mm晶圓檢測設備

        作者: 時間:2009-02-20 來源:SEMI 收藏
                據Semiconductor International網站報道,簽訂合約,將向出貨兩臺用于450mm的缺陷檢測設備。

                這兩臺設備分別是Reflex MC 450和BevelCam MC 450,兩臺設備將和450mm設備前端模塊一同集成于 450mm協同測試試驗臺。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/91436.htm


        關鍵詞: NanoPhotonics ISMI 晶圓

        評論


        相關推薦

        技術專區

        關閉
        主站蜘蛛池模板: 万年县| 靖安县| 日照市| 西乌珠穆沁旗| 西安市| 邛崃市| 临漳县| 屏山县| 江安县| 沁源县| 垫江县| 疏附县| 涞水县| 渑池县| 封丘县| 三江| 青海省| 彰化县| 汾西县| 闻喜县| 策勒县| 南溪县| 得荣县| 全州县| 鹤壁市| 海盐县| 四会市| 厦门市| 韩城市| 太谷县| 色达县| 印江| 昌乐县| 巴青县| 凌海市| 沾化县| 民乐县| 兰溪市| 莱芜市| 分宜县| 厦门市|