吉時利發布4200-SCS半導體特征分析系統KTEI V7.1升級版

　　吉時利（Keithley）儀器公司，日前發布最近針對其屢獲殊榮的4200-SCS半導體特征分析系統推出了KTEI（吉時利交互式測試環境）V7.1版。經過此次軟件升級之后，KTEI支持更高功率半導體器件的測試。這樣，4200-SCS就支持從低到高各種功率水平的器件的特征分析，從而成為市場上最完整的半導體特征分析儀，大大降低了一些復雜測量的難度，并且通過保護用戶的固定資產投資降低了用戶的測試成本。

　　KTEI V7.1的此次升級融合了多種新特征和新功能，擴寬了4200-CVU（電容-電壓單元）的功能， 包括對高達200VDC（即400V差分電壓）和300mA更高功率半導體器件的特征分析提供了軟件支持。這一功能對于從事LDMOS（橫向擴散MOS）器件以及用于汽車、顯示器、MEMS和其他高功率應用的較高功率半導體器件研究與開發的工程技術人員是非常有用的。KTEI V7.1還為下列新功能增加了軟件支持：

　　•差分直流偏壓
　　•準靜態C-V測試
　　•擴展的器件測試庫
　　•為加速和簡化測試而推出的各種軟件增強功能

支持更高功率的測試

　　新的4200-CVU-PWR C-V電源包硬件選件配合KTEI V7.1中的C-V軟件工具一起使用，能夠對高達200VDC電壓（即400VDC差分電壓）和300mA電流的高功率器件進行C-V測試。這種C-V測試可用于汽車電子器件、MEMS、LDMOS、顯示器和其他較高功率器件的設計、測試與建模。利用吉時利的4200-CVU-PWR C-V電源包，4200-SCS特征分析儀能夠在一個系統內支持更高功率的C-V、脈沖I-V（電流-電壓）和直流I-V測試應用。

　　此次升級的另外一項重要功能是采用了差分直流偏壓。4200-CVU集成的C-V測試儀對稱電路升級了flash存儲器，能夠在C-V HI和C-V LO端口上施加高達60V的差分直流偏壓。吉時利是第一個實現這一獨特功能的參數分析儀廠商，利用這一功能能夠對待測器件的電場進行更靈活的控制。這一功能尤其對于納米元件等特殊器件的器件建模十分有用。4200-CVU固件升級包含在KTEI V7.1內部，因此用戶不需要將設備返送回廠家進行重編程。

　　此次軟件升級支持最新的準靜態C-V測量技術——Ramp Rate方法，其中采用了4200-SCS現有的SMU和前置放大器。準靜態C-V技術非常適合于低功耗CMOS器件、高k介質器件、顯示器件和其他低泄漏器件的特征分析。

不斷增強系統功能確保始終如一的生產效率

　　吉時利的4200-SCS系統以一個緊密集成的特征分析方案取代了多種分離的電子測試工具，是多種應用的理想選擇，包括半導體技術研究、工藝開發、可靠性實驗室/材料與器件研究實驗室和機構的材料研究，也適合于所有需要臺式直流或脈沖式測試儀器的場合。自從4200-SCS系統推出以來，吉時利就在不斷增強其硬件和軟件功能。這種不間斷的系統更新服務為用戶提供了一條高性價比的升級之路，用戶不必因為其原來的設備過時而被迫購買新的參數分析儀。系統通過高性價比的升級服務能夠跟上業界不斷發展的測試需求，因此相比其他同類測試方案，對4200-SCS的資本投資能夠保持更長的時間。

價格與供貨

　　KTEI V7.1對于現有的4200-SCS系統是可以立即免費升級的，用戶聯系吉時利的銷售工程師即可預訂。4200-CVU-PWR C-V電源包同樣有現貨供應，可以作為備選附件進行訂購。