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        英特爾、臺積電與IBM的16/14nm技術有何不同?

        作者: 時間:2015-02-28 來源:日經BP半導體調查 收藏

          未透露細節

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/270233.htm

          發布了16nm工藝塊體FinFET技術。該公司在16nm工藝中首次采用了FinFET,此次發布的是其中的第2代工藝技術。該公司已開始進行16nm工藝技術的試產。

          的16nm技術采用側壁工藝形成Fin間距為48nm、柵極間距為90nm的微細圖案。柵極長度“估計為25nm左右,可能沒有(像那樣)微細化至20nm”。臺積電的論文“并未紹特性改善理由等詳情,其內容讓閱讀的人感覺有點失望”。

          與采用塊體FinFET的和臺積電不同,發布了采用SOI FinFET的14nm工藝技術。利用側壁工藝實現了Fin間距42nm及柵極間距80nm等。這項技術的另一個特點是,混載存儲器采用DRAM而不是 SRAM,實現了0.0174μm2的極小單元面積。

          與成本相比,更重視性能

          采用SOI基板的話,“基板成本會比塊硅基板高出數倍,但從制造工藝來看,可輕松形成Fin,而且性能上也有優勢,那就是可以消除Fin正下方的寄生容 量”。認為,提高Fin的高度之后,就會與耗電量發生此消彼長的關系,因此該公司“采用了與不同的優化方法,比如將Fin的高度設置比較 低”。

          據平本介紹,IBM的14nm工藝技術組合使用兩種柵極工作函數和摻雜工藝,在很大范圍內調整了閾值電壓,這也是其特點之一。區分使用兩種柵極工作函數的方法在技術上“很難實現”。

          基于上述三家公司發布的內容,平本表示,在16/14nm之后的工藝技術中,現行的“雙柵極構造是否會進化為(用柵極電極全方位包圍通道的)柵極環繞 (Gate-All-Around)構造尚不明朗。目前還有一個方向是通過增加Fin高度來獲得W(實效柵極寬度),10nm以后工藝的動向值得關注”。


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        關鍵詞: 英特爾 臺積電 IBM

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