臺積電響應28nm制程良率問題

　　臺積電(TSMC)日前響應了稍早前分析師指稱該公司 28nm CMOS制程存在著良率問題的說法。

　　臺積電歐洲公司總裁 Maria Marced 重申她與其他臺積電高層之前所強調的：減少28nm節點的缺陷密度一直在掌握中，以量產進度來看甚至快于40/45nm制程技術。

　　Marced承認，每一代制程節點在推出時都會有些問題，但臺積電的工程師總能迅速迎接挑戰。“所有事情都變得更加困難。我們已經在40nm學到很多了。我們的工程團隊也不斷針對各個設計定案(tape-out)進行努力，減少缺陷密度并提高良率，”她說。“到了20nm節點，可預見這將更加困難，但我們仍然看好未來的技術發展趨勢。”

　　Marced強調其樂觀是來自于臺積電目前已經有 36款IC進入量產，另外還有132個設計定案在進行中。“28nm的發展要比之前的40/45nm快上三倍，”她說。

　　2011年第四季，28nm晶圓生產約占臺積電營收的2%，銷售額約7,000萬美元，Marced說。預計該比重在2012年將上升到5%，銷售額則預期提高到1.7億美元。而針對2012年度，臺積電預計28nm晶圓生產占總營收比重將可達10%。

　　一個被分析師指稱遭遇良率問題的制程節點，能夠在2季之內將銷售額從7,000萬美元提高到1.7億美元，成績應該“不算太壞”，Marced說。