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        英特爾10nm設計規則初定 EUV技術恐錯失良機

        —— EUV技術仍面臨諸多技術難題
        作者: 時間:2011-03-09 來源:SEMI 收藏

          針對10nm節點,希望在非關鍵層使用193nm浸入式技術,以及在更復雜和更精細的線切割步驟中使用。“在這些步驟中,是我們的首要選擇,”他說。如果尚未就緒,那么很可能會使用無光罩或193nm浸入式技術來處理線切割步驟。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/117543.htm

          也已大致確立了其10nm設計規則,它將是基于1D單向、柵格式的設計。但難題是:英特爾的10nm設計規則必須以EUV或是193nm浸入式方案其中一種為主,他表示。

          EUV顯然趕不及英特爾的10nm節點設計規則定義時程了,他說。據報導,英特爾已開始制定基于193nm浸入式和多重曝光(multiple-patterning)的設計規則。

          當EUV工具就緒,英特爾可能會回頭重新定義設計規則。因此,實際上EUV仍有可能用于10nm節點。但若工具沒有準備好,英特爾就必須尋求其他的選擇。該公司的10納米設計規則將正式在2013年第一季抵定。


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        關鍵詞: 英特爾 EUV

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