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        臺(tái)積電稱(chēng)其已解決造成40nm制程良率不佳的工藝問(wèn)題

        作者: 時(shí)間:2010-01-21 來(lái)源:digitimes 收藏

          據(jù)公司高級(jí)副總裁劉德音最近在一次公司會(huì)議上表示,制程工藝的良率已經(jīng)提升至與現(xiàn)有制程相同的水平,他并表示公司已經(jīng)完美解決了先前造成制程良率不佳的工藝腔匹配(Chamber matching)問(wèn)題.

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/105371.htm

         

          19日舉辦了一場(chǎng)慶祝Phase5新廠(chǎng)房完工的慶典儀式,這間廠(chǎng)房隸屬于新竹科技園區(qū)的臺(tái)積電Fab12工廠(chǎng).據(jù)悉新完工的Phase5廠(chǎng)房將于今年第三季度起開(kāi)始批量投產(chǎn)28nm制程產(chǎn)品。

          另?yè)?jù)劉德音表示,臺(tái)積電正在計(jì)劃興建Fab12 Phase6廠(chǎng)房,這座Phase6廠(chǎng)房將用于生產(chǎn)22nm制程產(chǎn)品。



        關(guān)鍵詞: 臺(tái)積電 40nm 65nm

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