/ 前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章將比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。第一講 《功率器件熱設計基礎(一)----功率半導體的熱阻》 ,已經把熱阻和電阻聯系起來了,那自然會想到熱阻也可以通過串聯和并聯概念來做數值計算。熱阻的串聯首先,我們來看熱阻的串聯。當兩個或多個導熱層依次排列,熱量依次通過
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英飛凌 功率器件 熱設計 串聯 并聯
/ 前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會聯系實際,比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。功率半導體模塊殼溫和散熱器溫度功率模塊的散熱通路由芯片、DCB、銅基板、散熱器和焊接層、導熱脂層串聯構成的。各層都有相應的熱阻,這些熱阻是串聯的,總熱阻等于各熱阻之和,這是因為熱量在傳遞過程中,需要依次克服每一個熱阻,所以總熱阻就是
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英飛凌 功率器件 熱設計 散熱器
/ 前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。芯片表面溫度芯片溫度是一個很復雜的問題,從芯片表面測量溫度,可以發現單個芯片溫度也是不均勻的。所以工程上設計一般可以取加權平均值或給出設計余量。這是一個MOSFET單管中的芯片,直觀可以看出芯片表面溫度是不一致的,光標1的位置與光標2位置溫度
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英飛凌 功率器件 熱設計 溫度測試
/ 前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。熱容熱容 C th 像熱阻 R th 一樣是一個重要的物理量,它們具有相似的量綱結構。熱容和電容,都是描述儲存能力物理量,平板電容器電容和熱容的對照關系如圖所示。平板電容器電容和熱容
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英飛凌 功率器件 熱設計 功率半導體熱容
前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、SiC MOSFET高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。有了熱阻熱容的概念,自然就會想到在導熱材料串并聯時,就可以用阻容網絡來描述。一個帶銅基板的模塊有7層材料構成,各層都有一定的熱阻和熱容,哪怕是散熱器,其本身也有熱阻和熱容。整個散熱通路還包括導熱脂、散熱器和環境。不同時間尺度下
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英飛凌 功率器件 熱設計 熱等效模型
/ 前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。任何導熱材料都有熱阻,而且熱阻與材料面積成反比,與厚度成正比。按道理說,銅基板也會有額外的熱阻,那為什么實際情況是有銅基板的模塊散熱更好呢?這是因為熱的橫向擴散帶來的好處。熱橫向擴散除了熱阻熱容,另一個影響半導體散熱的重要物理效應為熱的橫向傳
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英飛凌 功率器件 熱設計 熱擴散
/ 前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。為什么引入結構函數?在功率器件的熱設計基礎系列文章 《功率半導體殼溫和散熱器溫度定義和測試方法》 和 《功率半導體芯片溫度和測試方法》 分別講了功率半導體結溫、芯片溫度、殼溫和散熱器溫度的測試方法,用的
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英飛凌 功率器件 熱設計 結構函數
前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。驅動IC電流越來越大,如采用DSO-8 300mil寬體封裝的EiceDRIVER? 1ED3241MC12H和1ED3251MC12H 2L-SRC緊湊型單通道隔離式柵極驅動器,驅動電流高達+/-18A,且具有兩級電壓變化率控制和有
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英飛凌 功率器件 熱設計 熱系數
/ 前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。功率半導體的電流密度隨著功率半導體芯片損耗降低,最高工作結溫提升,器件的功率密度越來越高,也就是說,相同的器件封裝可以采用更大電流規格的芯片,使輸出電流更大,但同時實際的損耗和發熱量也會明顯增大。功率器件中的分立器件、Easy系列模塊,Eco
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英飛凌 功率器件 PCB設計
大多數人在想象工業應用中的技術時,想到的是大型的機械和復雜的制造流程,這似乎與日常生活毫無關聯。然而通過實時控制,系統可以在規定的時間范圍內收集、處理數據并自行更新。智能感應可以檢測人員和機械,而邊緣人工智能 (AI) 可以快速、高效地做出決策。這些技術涵蓋從制造到物流的方方面面。它們就像超人一樣,從我們早上起床到晚上睡覺休息的這段時間里,在幕后悄悄地執行著各種各樣的任務,讓我們的世界正常運轉。對我們的日常生活來說,在工業應用中使用的技術與智能手機一樣重要且有益。它們為我們節省了時間,增加了便利性;保護我
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遠山半導體在連續推出幾款高壓GaN器件后,最終將他們最新款產品的額定電壓推向1700V,相較于之前的1200V器件又有了顯著的提升。為了解決GaN器件常見的電流崩塌問題,他們采用特有的極化超級結(PSJ: Polarization Super Junction)技術,并對工藝進行進一步優化,使器件的額定工作電壓和工作電流得到更大的提升(1700V/30A)。本次測試采用遠山半導體提供的1700V/100mΩ規格GaN樣品,其可以輕松應對1000V輸入電壓下的開關測試需求,在靜態測試條件下,1700V時測得
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/ 前言 /功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。功率器件熱設計基礎系列文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。功率器件的輸出電流能力器件的輸出電流能力首先是由芯片決定的,但是IGBT芯片的關斷電流能力很強,在單管里是標稱電流的3倍或4倍,模塊由于考慮多芯片并聯等因素,關斷電流能力定義為標稱電流的2倍。在實際系統設計中,器件輸出電流能力往往受限于芯片的
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功率MOSFET的正向導通等效電路(1):等效電路(2):說明:功率 MOSFET 正向導通時可用一電阻等效,該電阻與溫度有關,溫度升高,該電阻變大;它還與門極驅動電壓的大小有關,驅動電壓升高,該電阻變小。詳細的關系曲線可從制造商的手冊中獲得。功率MOSFET的反向導通等效電路(1)(1):等效電路(門極不加控制)(2):說明:即內部二極管的等效電路,可用一電壓降等效,此二極管為MOSFET 的體二極管,多數情況下,因其特性很差,要避免使用。功率MOSFET的反向導通等效電路(2)(1):等效電路(門極加
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功率器件 MOSFET 電路
過去幾十年間,人口和經濟活動的快速增長推動了全球能源消耗的穩步增長,并且預計這一趨勢還將持續。這種增長是線下與線上活動共同作用的結果。因此,數據中心的快速擴張顯著增加了全球電力需求。據估計,2022 年全球數據中心耗電量約為240-340 太瓦時(TWh)。近年來,全球數據中心的能源消耗以每年20-40% 的速度持續增長[1]。圖1 1910年以來全球二氧化碳排放量(單位:千兆噸):總量(上);按行業劃分(下)隨著能源消耗的增加,相關的二氧化碳排放量也在2022年達到創紀錄的37 千兆噸。為應對這一問題,
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202412 GaN CoolGaN
/ 編輯推薦 /氮化鎵晶體管和碳化硅MOSFET是近年來新興的功率半導體,相比于傳統的硅材料功率半導體,他們都具有許多非常優異的特性:耐壓高,導通電阻小,寄生參數小等。他們也有各自與眾不同的特性:氮化鎵晶體管的極小寄生參數,極快開關速度使其特別適合高頻應用。碳化硅MOSFET的易驅動,高可靠等特性使其適合于高性能開關電源中。本文基于英飛凌科技有限公司的氮化鎵晶體管和碳化硅MOSFET產品,對他們的結構、特性、兩者的應用差異等方面進行了詳細的介紹。引 言作為第三代功率半導體的絕代雙驕,氮化鎵晶體
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您好,目前還沒有人創建詞條600v氮化鎵(gan)功率器件!
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