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        測試設計的新語言CTL(04-100)

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        作者: 時間:2008-04-01 來源:電子產品世界 收藏

          基ATE

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/81045.htm

          Agilent 公司的設計與測試之間接口標準化為加速IC產品開發提供一種最好的機會。

          2001年,Agilent和Syopsys公司結成戰略聯盟,意圖在于加快EDA-aware ATE和ATE-aware EDA.的上市時間和降低測試成本。用和其他擴展版本為此提供實現機構。

          Agilent 公司附加到SmartTest Program Generator 上的CTL Browser,使得單步測試程序生成流能直接接受核或級CTL碼并直接輸出可下載的Agilent 93000 SOC Series 二進制文件(見圖2)。

          CTL給出SmartTest Program Generator具有分析來自測試聯系的設計能力。例如,測試工程技術人員現在具有了解如下的能力:用BIST或任選功能向量測試哪些核,哪些核共享一個專門的掃描鏈或哪些頂級I/O引腳連接到哪些內部核I/O引腳。這種對CTL的支持,使測試工程技術人員有能力使基于已有但從前未知信息基礎上的測試程序最佳化。



        關鍵詞: STIL SoC CTL

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