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        Neo Semiconductor將IGZO添加到3D DRAM設計中

        作者: 時間:2025-05-14 來源: 收藏

        存儲設備研發公司 Inc.(加利福尼亞州圣何塞)推出了其3D-X-DRAM技術的銦-鎵-鋅-氧化物()變體。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/202505/470427.htm

        3D-X-DRAM 于 2023 年首次發布。

        Neo 表示,它已經開發了一個晶體管、一個電容器 (1T1C) 和三個晶體管、零電容器 (3T0C) X-DRAM 單元,這些單元是可堆疊的。該公司表示,TCAD 仿真預測該技術能夠實現 10ns 的讀/寫速度和超過 450 秒的保持時間,芯片容量高達 512Gbit。

        這些設計的測試芯片預計將于 2026 年推出。

        是一種半導體材料,以其極低的漏電流、良好的載流子遷移率以及與低溫加工的兼容性而聞名。它已被作為顯示器的薄膜晶體管陣列有源矩陣選擇器推出,因為它具有優于非晶硅的移動性。

        該材料還顯示出動態隨機存取存儲器 (DRAM) 架構的有益特性。IMEC 研究所此前曾提議將 用于 2 晶體管 1 電容器 (2T1C) 和無電容器 2 晶體管 0 電容器 (2T0C) 電池。在 2T0C 設計中,讀取晶體管的寄生電容用作存儲元件,無需單獨的存儲電容器,可實現更高的密度和更少的面積消耗。

        的 IGZO DRAM 采用改進的 3D-NAND 閃存制造工藝制成。



        關鍵詞: Neo Semiconductor IGZO 3D DRAM

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