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        加速FPGA系統(tǒng)實(shí)時(shí)調(diào)試技術(shù)

        作者: 時(shí)間:2012-10-24 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        第4步. 進(jìn)行測量

        使用Bank(組)列表下拉菜單,選擇想要測量的組。一旦選擇了組,View會通過JTAG接口與通信,并配置測試內(nèi)核,以便選擇希望的組。

        選擇希望測量的信號組

        View還將這些通道名稱通過對TLA系列邏輯分析儀的控制進(jìn)行自動(dòng)分配,從而可以簡便地理解測量結(jié)果。為測量不同的一套內(nèi)部信號,用戶只需選擇不同的信號組(參見圖7)。全功能TLA系列邏輯分析儀會自動(dòng)把這些FPGA信號與中的其它信號關(guān)聯(lián)起來(參見圖8)。

        TLA系列邏輯分析儀自動(dòng)完成和簡化了許多測量

        在TLA邏輯分析儀中,針對設(shè)計(jì)人員關(guān)心的各種時(shí)間信息,提供了業(yè)內(nèi)獨(dú)有的定時(shí)參數(shù)自動(dòng)測量功能,通過鼠標(biāo)簡單的拖放操作,能夠得到周期、頻率、占空比、脈沖寬度、通道/通

        道延遲、邊沿計(jì)數(shù)、周期計(jì)數(shù)、違規(guī)計(jì)數(shù)、周期抖動(dòng)、以及周期間抖動(dòng)等信息。

        小結(jié)

        通過在FPGA和設(shè)計(jì)與應(yīng)用階段認(rèn)真考慮調(diào)試需求,可以選擇相應(yīng)的調(diào)試方法,既簡化調(diào)試流程,也有助于節(jié)約時(shí)間。嵌入式邏輯分析儀和外部邏輯分析儀這兩種方法各有優(yōu)缺點(diǎn),但FPGAView等新方法進(jìn)一步提高了外部邏輯分析儀方法的吸引力。能夠快速方便地移動(dòng)探點(diǎn),而不需重新匯編設(shè)計(jì),同時(shí)能夠把內(nèi)部FPGA信號活動(dòng)與電路板級信號關(guān)聯(lián)起來,直接決定著能否滿足產(chǎn)品開發(fā)周期的要求。


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