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        IC測試的創新

        作者: 時間:2010-02-05 來源:電子產品世界 收藏

          高端SoC測試測量設備趨向于靈活性提高,并降低成本。以V93000系列來說,產品系列簡潔,只有區區幾個系列,卻可以完成多種測試,秘訣在于在測試臺上可以更換板卡,有的測試設備可以放置20多種板卡。其核心技術也在于這些板卡上Verigy專有的ASIC芯片(Verigy像安捷倫一樣,有自己的IC設計團隊,因此競爭對手很難模仿)。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/105933.htm

          V101平臺是針對低端的,例如MCU測試,該產品2009年6月才推出,該設備的重要目標是在華的MCU制造商和代工廠。

          內存市場周期性變化影響顯著(圖4和圖5),預計2010年下半年內存市場將恢復,其驅動力為智能手機、Windows 7,長期驅動力是SSD(固態硬盤)。據美國應用材料公司的Mike Splinter預測,DRAM將在2010年一季度成為巨大的復蘇驅動力。Verigy的V6000系列的特點是AC性能高于880Mbit/s,能同時測試超過18k I/O引腳和4k PPS(可編程電源)。同時可適合各種內存器件,靈活可配置,成本較低。

          VLSI Research公司預計先進的內存測試卡市場在2010年將達到5億美元市場(圖6),2013年達到8億美元市場。Verigy的觸壓(Touchdown)業務始于2006年,主要做基于MEMS的測試卡,用于內存測試(NOR、DRAM和NAND)。與V6000系列一樣,服務同樣的客戶,但是成本更低。產品用于美國、我國臺灣、日本和新加坡等。(相關閱讀:近訪硅谷:Verigy把半導體測試從高向低延伸http://wangying1.spaces.eepw.com.cn/articles/article/item/68716)


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        關鍵詞: EDA IC測試 65nm 45nm 201001

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