- 據臺灣地區經濟日報報道，中國臺灣半導體廠染疫已由京元電子、超豐等半導體封測廠，蔓延到晶圓代工龍頭臺積電，以及網通產品供應商智邦科技，甚至與京元電子往來的IC設計公司員工也被要求快篩，不僅將沖擊苗栗竹南科學園區，恐將進一步影響位于竹科的廠商，對產業沖擊也將由半導體、網絡，進一步擴大到臺灣地區整個科技產業鏈。 處于風暴之眼的京元電子在全球封測市占率約3.7%，為第八大封測廠。其苗栗縣廠區近日爆出多名員工確診新冠肺炎。 為了避免疫情再度擴大，該公司相關廠區自4日夜班到6月6日的日班為止停工2天，進行廠區消毒
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IC測試 臺積電
- 芯片測試原理討論在芯片開發和生產過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應用，第三章介紹了
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IC測試 原理 射頻 測試基礎
- 掃描測試是測試集成電路的標準方法。絕大部分集成電路生產測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項成熟的技術，特點是結果的可預測性高并且效果不錯。它還能實現精確的缺陷診斷，有助于
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掃描測試 IC測試 ATPG
- 日前，江蘇艾科半導體二期項目在鎮江新區科技新城竣工開業，其中總投資2億元的集成電路第三方獨立測試服務基地，填補了我省該領域的空白，并為鎮江集聚集成電路產業提供支撐。下一步，該企業將與中科院微電子所共享科研成果，通過合作方式承擔廠商外包訂單。
此次合作，由鎮江現代服務業中中高端IC測試工程服務的領軍企業艾科公司，與VEGI公司共同投資3億元人民幣建設集成電路測試基地，其中，VEGI公司出資1500萬美元用于測試設備采購，艾科出資2億元人民幣用于測試設備采購、環境建設及流動資金。項目建成后，將為
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集成電路 IC測試
- 日前，江蘇艾科半導體二期項目在鎮江新區科技新城竣工開業，其中總投資2億元的集成電路第三方獨立測試服務基地，填補了我省該領域的空白，并為鎮江集聚集成電路產業提供支撐。下一步，該企業將與中科院微電子所共享科研成果，通過合作方式承擔廠商外包訂單。
此次合作，由鎮江現代服務業中中高端IC測試工程服務的領軍企業艾科公司，與VEGI公司共同投資3億元人民幣建設集成電路測 試基地，其中，VEGI公司出資1500萬美元用于測試設備采購，艾科出資2億元人民幣用于測試設備采購、環境建設及流動資金。項目建成后，將
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集成電路 IC測試
- 我在測試的時候，有些DC參數在同樣的條件下幾次測試的結果相差很大。不明白是為什么? 你使用的測試機臺是 ...
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IC測試
- 芯片測試原理討論在芯片開發和生產過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應用，第三章介紹了
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- 芯片測試原理討論在芯片開發和生產過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是第三章。我們在第一章介紹了芯片測試的基本原理；第二章討論了怎么把這些基本原理應用到存儲器和邏輯芯片的測試上；本文
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IC測試 原理
- 芯片測試原理討論在芯片開發和生產過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是第二章。我們在第一章介紹了芯片的基本測試原理，描述了影響芯片測試方案選擇的基本因素，定義了芯片測試過程中的常用術
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IC測試 原理
- 本系列一共四章，下面是第一部分，主要討論芯片開發和生產過程中的IC測試基本原理， 內容覆蓋了基本的測試原理，影響測試決策的基本因素以及IC測試中的常用術語。第一章 數字集成電路測試的基本原理器件測試的主要目
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IC測試 原理
- 20世紀70年代隨著微處理器的出現，計算機和半導體供應商逐漸認識到，集成電路需要在整個制造過程中盡可能早地進行測試，因為芯片制造缺陷率太高，不能等到系統裝配好后再測試其功能是否正確，所以在IC做好之后就應對
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IC測試 邏輯 內置
- 前言IC測試廠最重要的兩大指標就是測試品質與生產效率。測試品質的關鍵在于測試的再現性與可重復性，而生產要素除了合格率的因素外，最主要的就是測試設備的產能利用率。在質的方面，對于經過測試的每一顆IC，要求在
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IC測試 產能 利用率
- 藍牙規范的第一個正式版本1.0版已于1999年7月發布，之后許多廠商都推出了支持藍牙產品的高性價比集成電路芯片。隨著藍牙產品越來越普及，制造商需要以較低的成本完成大量測試工作。本文針對藍牙射頻前端收發器，著重
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transceiver 藍牙 IC測試 收發器
- 1 引言 本文主要討論芯片開發和生產過程中的IC測試基本原理，內容覆蓋了基本的測試原理，影響測試決策的基本因素以及IC測試中的常用術語。 2 數字集成電路測試的基本原理 器件測試的主要目的是保證器件在惡
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芯片 IC測試 分析 原理
- 一、降低測試成本提高測試速度勢在必行任何一種電子產品都離不開體積小、功能強的芯片，正是芯片推動著IC飛...
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IC測試 新的階段
ic測試介紹
IC測試
任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設計的單片模塊，IC測試就是集成電路的測試，就是運用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無缺陷的產品的話，集成電路的測試也就不需要了。由于實際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產品都會產生不良的個體，因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。
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