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        IC測(cè)試的創(chuàng)新

        作者: 時(shí)間:2010-02-05 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/105933.htm

          2006年,安捷倫公司的半導(dǎo)體測(cè)試部門被剝離成Verigy公司。該公司一直穩(wěn)扎穩(wěn)打,2009年被VLSI Research公司評(píng)為市場(chǎng)層面的2009年最佳芯片制造設(shè)備供應(yīng)商(表1),在2009十佳芯片制造設(shè)備供應(yīng)商中排名第4(表2)。

          不僅如此,該公司也開始從傳統(tǒng)的高端向價(jià)廉的中低端發(fā)展,例如推出了低于100MHz的SoC(V101系列設(shè)備),目前占該公司10%左右的份額。目前,Verigy 70%以上業(yè)務(wù)服務(wù)于大于100MHz的SoC(產(chǎn)品為該公司著名的V93K系列)。另外,存儲(chǔ)類測(cè)試(V6000系列設(shè)備)占10%。不僅如此,該公司還發(fā)展存儲(chǔ)測(cè)試卡,預(yù)計(jì)2012年左右,先進(jìn)的存儲(chǔ)測(cè)試卡(TdT系列)、其他存儲(chǔ)(V6000)系列增長(zhǎng)很快,將各占20%市場(chǎng)份額左右。



        關(guān)鍵詞: EDA IC測(cè)試 65nm 45nm 201001

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