- 今天，KLA-Tencor Corporation推出兩款先進的量測系統，可支持 16 納米及以下尺寸集成電路器件的開發和生產：Archer™ 500LCM 和 SpectraFilm™ LD10。Archer 500LCM 套刻測量系統在提升成品率的所有階段提供了準確的套刻誤差反饋，可幫助芯片制造商解決新的圖型套刻問題，例如多層光刻和隔離層掩膜分割。通過對薄膜厚度和應力進行可靠、準確的測量，SpectraFilm LD10 薄膜測量系統能對 FinFETs、3D NAND 和
- 關鍵字：
KLA-Tencor Archer
- KLA-Tencor的業務涵蓋了半導體的多個領域，從硅片檢測到線寬量測，以及光罩部分，KLA-Tencor都在業界處于領先水平。同時，KLA-Tencor也在積極向LED等新的領域擴展。 除了這些業務以外，KLA-Tencor還提供技術支持與服務，幫助客戶實現更大的生產價值。KLA-Tencor在中國的總部位于上海，在北京、天津、蘇州、無錫、大連、西安、武漢都設有分支機構。總員工人數超過190人，裝機量突破了1600臺。KLA-Tencor非常重視中國市場，在中國進行了持續的投資以實現進一步的發展。我
- 關鍵字：
KLA-Tencor LED
- 今天，KLA-Tencor 公司宣布推出 WaferSight™ PWG 已圖案晶圓幾何形狀測量系統、LMS IPRO6 光罩圖案位置測量系統和 K-T Analyzer® 9.0 先進數據分析系統。這三種新產品支持 KLA-Tencor 獨特的 5D™ 圖案成型控制解決方案，此方案著重于解決圖案成型工藝控制上的五個主要問題——元件結構的三維幾何尺寸、時間效率和設備效率。5D 圖案成型控制解決方案主要通過對光刻模塊工藝和非光刻模塊工藝的量化、優化
- 關鍵字：
KLA-Tencor 測量系統 Analyzer
- 今天，在美國西部半導體設備暨材料展 (SEMICON West) 上，KLA-Tencor 公司宣布推出四款新的系統—— 2920 系列、Puma™ 9850、Surfscan® SP5 和 eDR™-7110 ——為 16nm 及以下的集成電路研發與生產提供更先進的缺陷檢測與檢查能力。2920 系列寬波等離子圖案晶圓缺陷檢測系統、Puma 9850 激光掃描圖案晶圓缺陷檢測系統和 Surfscan SP5 無圖案晶圓缺陷
- 關鍵字：
KLA-Tencor 晶圓 檢測儀
- KLA-Tencor 公司(納斯達克股票代碼：KLAC)宣布推出 Teron? SL650，該產品是專為集成電路晶圓廠提供的一種新型光罩質量控制解決方案，支持 20nm 及更小設計節點。Teron SL650 采用 193nm光源及多種 STARlight? 光學技術，提供必要的靈敏度和靈活性，以評估新光罩的質量，監控光罩退化，并檢測影響成品率的光罩缺陷，例如在有圖案區和無圖案區的晶體增長或污染。此外，Teron SL650 擁有業界領先的產能，可支持更快的生產周期，以滿足檢驗
- 關鍵字：
KLA-Tencor SL650 EUV
- KLA-Tencor 公司(納斯達克股票代碼：KLAC)日前宣布其第一臺能夠檢測 450mm 硅片的半導 體制程控制系統已裝機 。該系統被命名為 Surfscan SP3 450, 是市場領先的 Surfscan? SP3 平臺的最新配置。這種全自動化的無圖案硅片檢測系統是為滿足 20nm 及以下制程缺陷與表面品質特性的嚴格要求而專門設計。
- 關鍵字：
KLA-Tencor Surfscan 硅片
- 包括 KLA-Tencor 、 Novellus Systems 與 Teradyne 等半導體設備大廠陸續在近日公布最新一季財報結果，其銷售業績一如預期呈現衰退，而且他們也估計下一季業績將衰退更多;這些廠商的收入來源集中在晶圓代工廠對32奈米與28奈米制程節點的投資。
在此同時， EDA 供貨商 Cadence Design Systems的第三季財報結果則是表現亮眼，該公司表示第四季業績將會再度出現成長。不過Cadence一反近日半導體產業界常態的成長表現，可能有部分原因是來自于會計計算方法
- 關鍵字：
KLA-Tencor 晶圓代工
- VLSI Research預測稱2010第四季度半導體設備市場有所降溫，全年半導體設備銷售額預計增長96%，達到474億美元。
Tokyo Electron和Advantest在排名前十的設備廠商中獲得最大的增長幅度。Applied Materials和ASML繼續保持領先地位。其他增長迅速的公司是KLA-Tencor和Dainippon Screen。
- 關鍵字：
KLA-Tencor 半導體設備
- 半導體市場從08年4季度開始，受經濟危機拖累陷入低谷，其中半導體制造和封測設備市場更是首當其沖，削減運營成本支出一時間成為半導體廠商追捧的過冬手段。然而，對于謀求市場復興機遇的企業，繼續保持創新和研發的力度才是進補的最好戰略。近日，在一年一度的品質管理峰會(Yield Management Seminar，YMS)上，半導體測試領先廠商KLA-Tencor公司首席市場官Brian Trafas博士與大家分享了公司應對危機的戰略和未來發展規劃。
雖然受經濟大環境的影響，半導體產業的發展有所放緩，但
- 關鍵字：
KLA-Tencor 封測 高K金屬柵 3D晶體管 200910
- 晶圓設備商KLA-Tencor將再度裁員10%，作為其控制成本的舉措之一。
此次裁員和其他成本控制措施計劃將幫助該公司減少單季運營支出達1.4億美元至1.45億美元。
去年11月，KLA-Tencor裁員900人，約占當時員工數的15%。一直有傳言該公司將裁員25%。
- 關鍵字：
KLA-Tencor 晶圓
- KLA-Tencor 公司日前推出了 PlasmaVolt X2，可用于在半導體晶圓處理系統中測量等離子室的狀況。由于增加了內嵌式傳感器數量，且空間分辨率得到改善，PlasmaVolt X2 對各種參數的變化極為敏感，例如無線電頻率 (RF) 功率、氣流、磁場及等離子室設計。這種等離子行為測量和特征化系統能改善生產環境中的等離子室配對、機臺檢驗、系統故障排除及工藝開發。
KLA-Tencor 的 SensArray 分部高級副總裁兼總經理 Larry Wagner 表示：&ldquo
- 關鍵字：
KLA-TENCOR PLASMAVOLT
- KLA-Tencor 公司日前推出了 PROLITHTM 12 ，這是一款業界領先的新版計算光刻工具。此新版工具讓領先的芯片制造商及研發機構的研究人員能夠以具有成本效益的方式探索與極紫外線 (EUV) 光刻有關的各種光罩設計、光刻材料及工藝的可行性。
縮小芯片上重要器件的關鍵尺寸能夠讓芯片廠生產出更快的微處理器，但在成像時用于曝光光罩的光波波長對于能夠形成的器件有最小關鍵尺寸的限制。在過去幾代的芯片器件上，半導體行業一直使用深紫外線 (DUV) 光波。以后更短的波長將是 EUV 的天下。專家預測
- 關鍵字：
KLA-TENCOR
- KLA-Tencor 公司（納斯達克股票代碼：KLAC）今天針對硬盤驅動器基片與盤片高級缺陷檢查推出了 Candela 7100 系列。7100 系列建立在備受肯定且已量產化的 Candela 產品線基礎上，專為幫助制造商識別與分類諸如凹陷、凸起、微粒及隱藏缺陷等亞微米級關鍵缺陷而設計，可以提升良率，降低檢測的總成本。
KLA-Tencor 成長與新興市場 （GEM） 集團副總裁 Jeff Donnelly 表示："Candela 7100 系列是我們光學表面分析技術的一個創新延伸，作
- 關鍵字：
硬盤 驅動器 KLA-Tencor 科天
- 日前，KLA-Tencor 公司推出了 Surfscan® SP2XP，這是一套專供集成電路(IC) 市場采用的全新控片檢測系統，該系統是根據去年在晶片制造市場上推出并大獲成功的同名姊妹機臺開發而成。全新的 Surfscan SP2XP 對硅、多晶硅和金屬薄膜上的缺陷靈敏度更高，且與其上一代業界領先的產品 Surfscan SP2 相比，在按缺陷類型和大小來分類方面具有更強能力。其特性還包括真空承載裝置和業界最佳的生產能力。這些功能是為芯片制造商在晶片廠提供卓越的制程機臺監控而設計，使其能將領
- 關鍵字：
集成電路 IC 控片檢測系統 KLA-Tencor
- KLA-Tencor 公司（納斯達克股票代碼：KLAC）今天發布其最新的探針式表面輪廓測量系統 P-6?，該系統針對科學研究與生產環境（例如，光電太陽能電池制造）提供一組獨特的先進功能組合。P-6 系統受益于在先進半導體輪廓儀系統上開發的測量技術，但卻采用了較小與較經濟的桌面型機臺設計，可接受最大至 150 毫米的樣本。
KLA-Tencor 的成長與新興市場集團副總裁 Jeff Donnelly 表示：“我們對 P-6 探針系統的推出感到振奮，該系統將為科學與太陽能客戶
- 關鍵字：
KLA-Tencor 表面輪廓儀 光電太陽能
kla介紹
您好，目前還沒有人創建詞條kla!
歡迎您創建該詞條，闡述對kla的理解，并與今后在此搜索kla的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
