- :EL檢測儀，又稱太陽能組件電致發光缺陷檢測儀，是跟據硅材料的電致發光原理對組件進行缺陷檢測及生產工藝監控的專用測試設備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會發出1000-1100nm的紅外光，測試儀下
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缺陷 分析 EL 組件 電池 晶體
- 一、 序言LED 照明產業發展到現在,我們對LED 照明產品標準和檢測方法的回顧、小結的時候已經基本到來。傳統的 LED 及其模塊光、色、電參數檢測方法有電脈沖驅動,CCD 快速光譜測量法,也有在一定的條件下,熱平衡后的測
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LED 照明產品 檢測 缺陷
- 前言 汽車電子市場是繼電腦、通訊之后PCB的第三大應用領域。隨著汽車從傳統意義上的機械產品，逐步演化、發展成為智能化、信息化、機電一體化的高技術產品，電子技術在汽車上的應用已十分廣泛，無論是發動機系統
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- DLP拼接大屏作為大屏拼接領域的主力軍，一直被廣泛應用于多個領域。而且，隨著技術的日漸完善以及人們大屏幕視覺需求的火熱，其應用范圍更加寬泛，應用環境也更加廣泛，隨著而來的選購維護問題也更加復雜。其實大屏作
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- 針對產品的缺陷，三相多功能電能表解決方案誕生,背景電能表是用來測量電能的儀表，又稱電度表，火表，電能表，千瓦小時表，指測量各種電學量的儀表。目前國內的電能表設計已經走過了由8位MCU向通用DSP甚至專用DSP的變革，通用DSP的應用方案的劣勢在于DSP的專業應用
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- 摘要 基于第一性原理計算方法，通過密度泛函理論(DFT)和廣義梯度近似(GGA)對本征及含有缺陷的石墨烯超晶胞進行了電子結構的計算，研究了多種缺陷對石墨烯電子結構的影響。研究發現，多種缺陷均使石墨烯能帶在費米能級
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- 查找嵌入式軟件設計中的缺陷的方法,本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發現軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發項目依靠結合代碼檢查、結構測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統技術非常重要，而且能發現大多
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- 摘要：LED(Light-emitting diode)由于壽命長、能耗低等優點被廣泛地應用于指示、顯示等領域。可靠性、穩定性及高出光率是LED取代現有照明光源必須考慮的因素。
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- 摘要：傳統的光纖端面缺陷檢測用的是人工檢測方式，這種檢測方式效率很低，檢測結果的主觀性很強。對光纖端面缺陷使用機器視覺檢測，能極大地提高檢測效率和檢測準確性。首先將采集到的圖像通過圖像處理二值化，接著
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檢測 應用 缺陷 光纖 視覺 機器
- 1、前言 在現代電子產品世界中，PCB(印刷電路板)是組成電子產品的重要環節，很難想象在一臺電子設備中有不采用PCB的，所以PCB的質量如何將對電子產品能否長期正常可靠工作帶來非常大的影響。提高 PCB的質量是電子
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PCB 視覺系統 防止 缺陷
- 針對OLED顯示屏的自動化缺陷檢測問題，提出了一種新的檢測方法。首先，基于顯示屏的原圖像，提取其骨架信息，進行分塊處理后快速地與模板圖像配準，通過差影法實現斑痕缺陷的初次提取。然后通過大津法確定圖像的閾值，將圖像分割并進行差影操作后，實現斑痕缺陷的檢測；最后，通過列舉的實例，驗證了本方法的有效性。
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- 現在LED晶片廠商在制作LED藍色芯片工藝大致分四種：1.藍寶石襯底GaN基質LED這是大多數晶片廠商常用...
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藍色發光二極管 晶片制備技術 缺陷
- 查找嵌入式C語言程序/軟件中的缺陷的多種技術,基于模式的靜態代碼分析、運行時內存監測、單元測試以及數據流分析等軟件驗證技術是查找嵌入式C語言程序/軟件缺陷行之有效的方法。上述技術中的每一種都能查找出某一類特定的錯誤。即便如此，如果用戶僅采用上述技術
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- 一、前言
在線路板的制作過程中，多數廠家因考慮成本因素仍采用濕膜工藝成像，從而會造成圖形電鍍純錫時難免出現“滲鍍、亮邊(錫薄)”等不良問題的困擾，鑒于此，本人將多年總結出的鍍純錫工藝
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- 嵌入式軟件技術的缺陷查找方法, 本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發現軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發項目依靠結合代碼檢查、結構測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統技術非常重要，而且能發現
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