如果哪位仁兄沒有遇到過接地的問題，肯定不是干EE的! 在研發(fā)和測試過程中的接地都很重要。不良的接地，不僅可能導致錯誤的測量，甚至會損壞儀器和被測件。 例如， 在使用示波器時， 會看到很大的噪聲和詭異的波形，
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接地 測試
有一位仁兄，從事軍用計算機的測試工作。軍用計算機的要求與我們民用的有很大的區(qū)別。如果我們自己選用的PC機，我們關心的可能是CPU的速度、存儲器、內存、顯卡等等。但軍用計算機需要考慮的首要問題，就是可靠性。
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測試 萬用表
1、輻射發(fā)射測試測試電子、電氣和機電設備及其組件的輻射發(fā)射，包括來自所有組件、電纜及連線上的輻射發(fā)射，用來鑒定其輻射是否符合標準的要求，一致在正常使用過程中影響同一環(huán)境中的其他設備。2、傳導騷擾測試為了
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電磁兼容 測試
汽車換心行動是當下主流的趨勢，汽車的動力來源將由電機取代傳統的內燃機，今天我們就來做一次別開生面的“大手術”。
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新能源汽車 電機 測試
費思電子負載針對快速充電器的測試應用：只要按一下按鍵，負載會自動開始測試，并對快速充電器進行輸出狀態(tài)改變觸發(fā)，配合輸出改變，完成各種輸出狀態(tài)的測試，自動完成測試，自動給出判斷。快速充電器應用廣泛，是未
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快速充電 測試 費思
引言：當今由于電子產品對數據吞吐率要求越來越高，這使得信號傳輸速率也越來越高且往往需要多個通道同時傳輸，這給測試帶來了很大的挑戰(zhàn)。當今由于電子產品對數據吞吐率要求越來越高，這使得信號傳輸速率也越來越高
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高速串行總線 測試 模塊化示波器
很多朋友都有購買耳機的經驗，當我們穿梭在琳瑯滿目的電子市場中，各種造型和價位的耳機讓我們無所適從，有的耳機要價千元以上，而有的卻只賣幾元錢，差價令人咋舌。為何同樣是耳機，售價卻如此懸殊呢?除了品牌含金
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底噪 示波器 測試
處理器的使用在進入實際測試實例之前，我們先討論用于此測試應用的新儀器特性。2600系列源表具有強大的嵌入式計算機或測試腳本處理器，因而能實現在堆架式儀器中從未見過的功能。可以將完整的測試程序(腳本)下載至T
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測試 it 吉時利 測量
圖1描述了實際系統對1A負載電流脈沖的電壓響應(下面的曲線)。負載是阻性的，電纜長度可以忽略(負載直接連在電源輸出端)。負載電壓對負載電流脈沖上升沿和下降沿的響應顯示了10mV壓降與10mV過沖。這非常接近于能夠實
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測試 it 吉時利 測量
電容器檢測方法主要分為三個大類：可變電容器的檢測、電解電容器的檢測、固定電容器的檢測。1、可變電容器的檢測A用手輕輕旋動轉軸，應感覺十分平滑，不應感覺有時松時緊甚至有卡滯現象。將載軸向前、后、上、下、左
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電容器 測試 測量
伴隨著自動化領域的不斷向前發(fā)展，變頻器的應用也深入到了各行各業(yè)各個領域，變頻器也在不斷地推陳出新，功能越來越強大，可靠性也相應地越來越高。但是如果使用不當，操作有誤，維護不及時，仍會發(fā)生故障或運行狀況
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變頻器 測試 測量
電路評估與測試設備要求(可以用同等設備代替)EVAL-SDP-CB1Z系統演示平臺CN-0182電路評估板(EVAL-CN0182-SDZ)CN-0182評估軟件TektronixTDS2024，4通道示波器HP-E3630A0V至6V、2.55Aplusmn;20V、0.5A三路輸出直流電源
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電路 測試 單電源 窗口檢測器
Qualcomm Incorporated今日宣布成立高通通訊技術(上海)有限公司(Qualcomm Communication Technologies (Shanghai) Co. Ltd.) ，新公司位于上海外高橋自由貿易區(qū)，擁有半導體測試設施，這也是Qualcomm首次涉足半導體制造測試業(yè)務。通過與全球領先的半導體封裝和測試服務提供商Amkor Technologies, Inc.合作，新公司將Amkor豐富的測試服務經驗和尖端的凈室設施與Qualcomm Technologies行業(yè)領先的前
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高通 測試
TCL嵌入式測試技術在數通領域的應用,TCL (Tool Command Language)是一種解釋執(zhí)行的腳本語言(Scripting Language)，是業(yè)界主流自動化測試語言，修改后不需重新編譯，TCL解釋器直接執(zhí)行。在傳統的黑盒測試中，TCL也有大量應用，測試模型如圖1所示原有自動
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TCL 嵌入式 測試
目前黯淡的全球經濟環(huán)境也正在沖擊測試測量行業(yè)的發(fā)展速度。在這幾天舉辦的NIWeek 2016上，不管是NI創(chuàng)始人兼CEO Dr. James Truchard，還是NI負責全球銷售和市場營銷的執(zhí)行副總裁Eric Starkloff，都異口同聲地說，目前全球總體測試測量市場規(guī)模在下降，但我們還能保持兩位數增長，在自動化、圖形化、分布式測試市場增速更快。
圖1：NI創(chuàng)始人兼CEO Dr. James Truchard與筆者在NIWeek
Eric Starkloff
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NI 測試
測試介紹
中文名稱：
測試
英文名稱：
test
定義1：
對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。
應用學科：
航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應用學科：
通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科)
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