測試 文章 最新資訊
線卡的環(huán)路測試
- 在制造電信線路卡時，必須保證它們符合各種標準，必須使每一線卡的接收器經(jīng)受抖動和低功率信號的考驗，其發(fā)送器必須能夠提供足夠的功率以最小的抖動實現(xiàn)跨長距離傳送，同時還必須對該線卡是否正確復(fù)用和解復(fù)用數(shù)據(jù)流進行測試。表1是電信線路卡主要測試一覽表。進行線卡測試時，必須把線卡安裝到模擬電信網(wǎng)絡(luò)的測試臺中。圖1示出利用回送信號進行線卡測試的典型測試過程。借助回送法，通過由電信測試裝置產(chǎn)生的光測試信號對線卡的接收器進行測試。線卡的接收器把光信號轉(zhuǎn)換成電信號，并將它沿背板回送給另一線卡，將測試信號環(huán)回到測試裝置。接收器
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全國電子測試工程系統(tǒng)學術(shù)報告會召開
- 由中國電子學會測試與儀器分會、中國計量測試學會國外儀器技術(shù)專業(yè)委員會和電子計量專業(yè)委員會聯(lián)合組織的“2002年全國計量、儀器、測控工程系統(tǒng)學術(shù)報告會”10月中旬在武夷山舉行。來自全國儀器儀表、測量測試行業(yè)、大學及產(chǎn)業(yè)界的100多名專業(yè)技術(shù)人員參加了大會。第二炮兵工程學院教授、工程院院士黃先祥先生到會并講話。哈爾濱工業(yè)大學孫圣和教授介紹了儀器儀表及測試測量技術(shù)，從模擬到數(shù)字，再到標準化模塊的發(fā)展趨勢及現(xiàn)狀。
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測試技術(shù)發(fā)展趨勢
- IC測試、通信測試、網(wǎng)絡(luò)測試和虛擬儀器的發(fā)展已出現(xiàn)一些新的勢態(tài)。 降低測試成本成為發(fā)展IC測試的首要目標 對體積更小、功能更強的芯片的需求正推動IC產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，同時也推動著IC設(shè)計和測試的發(fā)展。對于系統(tǒng)芯片（SOC）的測試，其成本已幾乎占芯片成本的一半。根據(jù)英特爾公司副總裁提出的測試摩爾定律，未來幾年，每一晶體管的硅投資成本將低于其測試成本。 因此未來IC測試設(shè)備制造商面臨的最大挑戰(zhàn)是如何降低測試成本。 過去的集成電
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測試介紹
中文名稱：
測試
英文名稱：
test
定義1：
對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。
應(yīng)用學科：
航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應(yīng)用學科：
通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科)
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