- 本文討論一個高性能時鐘發(fā)生器如何配合一個或多個集成收發(fā)器工作，以便簡化整體設(shè)計、降低復(fù)雜度和成本，同時實現(xiàn)出色的系統(tǒng)接收和發(fā)射性能。即使基站長時間丟失時序參考信號，網(wǎng)絡(luò)中的所有其他基站仍能保持同步。
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MIMO NxN 基站 時序
- 介紹Cypress公司的圖像傳感器IBIS5-B-1300，分析其特性和工作原理，并對其兩種快門方式進行了比較。在此基礎(chǔ)上設(shè)計它所需要的時序控制電路。選用Xilinx公司的Spartan3系列FPGA芯片XC3S50作為硬件設(shè)計平臺，對采用不同配置和快門的時序控制電路進行了仿真。實驗結(jié)果表明，設(shè)計的驅(qū)動電路能夠滿足成像器的工作需求。
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時序 設(shè)計 驅(qū)動 IBIS5-B-1300 圖像 傳感器 CMOS 數(shù)字信號
- 本文介紹了一種用于聲波測量用的發(fā)射電路的設(shè)計方法，利用555定時電路生成控制脈沖序列，采用大功率VMOS器件作為控制器件，實現(xiàn)高壓矩形脈沖信號輸出，合理的脈沖寬度設(shè)計可以滿足超聲實驗測量，也可廣泛用于石油聲波測井、工程地震勘測等應(yīng)用中。
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工業(yè)控制 發(fā)射電路 聲波測井 時序 脈沖設(shè)計 201004
- 1 引言
串行外圍設(shè)備接口SPI(serial peripheral interface)總線技術(shù)是Motorola公司推出的一種通用串行接口。它是一種三線同步總線，硬件功能很強。但是在數(shù)字溫度傳感器TC77與三星S3C2410處理器的通信中，由于受
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通信 應(yīng)用 S3C2410 TC77 SPI 時序 虛擬
- 摘要：介紹TDI-CCD的特點、工作原理，根據(jù)項目所使用的TDI-CCD的使用要求，設(shè)計一種基于Altera公司的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)EP3C-25Q240的TDI-CCD驅(qū)動時序電路，驅(qū)動時序使用VHDL語言編寫，在QuartusⅡ平臺上進行時序
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TDI-CCD FPGA 時序 電路設(shè)計
- 一、摘要 從簡單SRAM接口到高速同步接口，TimingDesigner軟件允許設(shè)計者在設(shè)計流程的初期就判斷出潛在的時序問題，盡最大可能在第一時間解決時序問題。在設(shè)計過程的早期檢測到時序問題，不僅節(jié)省時間，而且可以更
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FPGA 時序
- 更高速的 ADC 在轉(zhuǎn)換器輸出和接收機輸入之間有嚴格的時序要求；知道如何利用產(chǎn)品說明書數(shù)字來保證無錯誤數(shù)字傳輸。最近幾年，高速、高精度的模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 變得疾速。在 2006 年，一款業(yè)界一流的 12-位轉(zhuǎn)換器才達
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ADC 時序
- 0 引 言
利用現(xiàn)場可編程邏輯器件產(chǎn)生VGA時序信號和彩條圖像信號，并將其作為信號源，應(yīng)用于電視機或計算機等彩色顯示器的電路開發(fā)，方便彩色顯示器驅(qū)動控制電路的調(diào)試。計算機顯示器的顯示有許多標(biāo)準(zhǔn)，常見的有
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FPGA VGA 時序 信號
- 時序問題對于許多嵌入式設(shè)計來說是相當(dāng)常見的，故障排除可能是一個耗時的任務(wù)。使用正確的邏輯分析儀將簡化和加快這一進程。對比指標(biāo)時，許多邏輯分析儀似乎有相同的性能，但為了確保邏輯分析儀能夠正確地采集信號，快速地找到問題，你不能只看指標(biāo)，還需要考慮到邏輯分析儀的結(jié)構(gòu)和功能。
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邏輯分析儀 調(diào)試 時序
- 摘 要：飛行器自毀系統(tǒng)是飛行器的重要組成部分，它的可靠性和穩(wěn)定性是飛行器可靠工作的基礎(chǔ)。分析飛行器自毀系統(tǒng)工作原理，采用復(fù)雜可編程邏輯器件(CPLD)實現(xiàn)了飛行器自毀系統(tǒng)設(shè)計，結(jié)合CPLD的特點，提出一種基于改進
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時序 控制 設(shè)計 系統(tǒng) 自毀 有限 狀態(tài) 飛行器 基于
- 1 引言 電荷耦合器件(Charge Coupled Devices，簡稱CCD)是一種光電轉(zhuǎn)換式圖像傳感器。它利用光電轉(zhuǎn)換原理將圖像信息直接轉(zhuǎn)換成電信號，實現(xiàn)非電量測量。由于CCD的輸出信號是負極性的離散模擬信號，并且混雜有
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時序 設(shè)計 驅(qū)動 XRD44L60 VHDL 基于
- 1.引言 隨著深亞微米技術(shù)的發(fā)展，數(shù)字電路的規(guī)模已經(jīng)發(fā)展到上百萬門甚至上千萬門。工藝也從幾十μm提高到65nm甚至45nm。這樣的電路規(guī)模做驗證的時間在整個芯片的開發(fā)周期所占的比例會越來越重。通常，在做驗證的時
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靜態(tài) 時序 分析 芯片 處理 數(shù)字 基帶 手機
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