PSRR：關于開環閉環D類放大器的真實故事
作者：Michael Firth Yang Boon Quek 德州儀器 (TI) 高性能模擬產品部
時間：2009-11-10
來源：電子產品世界
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但是就音頻質量而言，IMD并非是一種能夠給您諸多定性方法的簡單的測量方法。一種選擇是進行相同的實驗，但現在卻是對THD+N變量曲線進行測量，這也正是我們要在后面兩個測量方法中做的。利用一個1kHz數字音頻信號和500mVpp電源紋波對THD+N進行測量。電源紋波頻率在50Hz到1kHz范圍內變化。
本文引用地址：http://www.104case.com/article/99722.htm圖2中，觀察不同電源紋波頻率下開環部分的THD+N掃描。紅線表示電源沒有紋波的放大器性能，其代表理想狀況。其它曲線代表50Hz到1kHz之間變化的紋波頻率。請注意，紋波頻率增加時，失真影響的頻率帶寬也同時增加。請注意，開環性能在穩定電源環境中較好，但是這會增加成本，并且會在當今這個消費類電子產品激烈競爭的世界中處于不利地位。
觀察圖3所示的相同THD+N掃描，但現在針對的是閉環放大器。反饋功能將抑制互調失真，因此您沒有看到任何紋波噪聲對音頻性能的影響。
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