彩色濾光片實現OLED彩色化的瑕疵分析*

　　而尖峰較多的表面會比一般平整的ITO上制作的器件更容易集中注入空穴，所以表面形態和OLED器件的漏電流有著直接的聯系。因為ITO表面的粗糙引尖峰會成為漏電流的途徑。存在的異物等突起，會使這些部位電流密度增高，漏電流加大，功耗增加，嚴重時造成局部短路，產生黑點，結果是顯示器的發光效率降低、壽命縮短，甚至因出現嚴重黑點而報廢。

　　對于ITO的規格比較統一標準是10mm×10mm正方形面積內的AFM測得的平均粗糙度Ra≤1~3nm、Rp-v≤10~30nm。這樣的要求高于普通STN的ITO基板， LCD用CF的ITO表面沒有提過如此嚴格的要求，因為其前后電極距離有6000nm之多，幾十nm的Spike(突起)與之相比可以忽略。OLED器件會由于ITO基板表面的粗糙引起的器件像素區域出現黑點，漏電流過大，壽命較短等一系列的問題。

　　結論

　　對于將CF應用于OLED全彩化顯示的技術，目前還有很多課題需要解決。如何解決CF表面的粗糙度，以及阻隔ITO層下面的有機層上水氣方面，目前業內還沒有滿意的解決方案。以上這些ITO薄膜的粗糙不平屬于納米級別的不平問題，灰塵和針孔等缺陷引起的凸凹不平將引起更嚴重的問題，屬于微米級別的不平問題，所以必須嚴格控制各種灰塵和針眼等缺陷。因此，對于OLED的材料開發也提出了新的課題，同時也需要對OLED的器件結構的改進。

　　參考文獻：

　　[1] Tang C W. Van Slyke[J]. Appl. Phys. Lett.,1987,51,913-915

　　[2]李文連.有機EL產業發展的最新動態[J].液晶與顯示，2001,16(3):77

　　[3] Kido J, Kimura M,Nagai K. Multilayer White-Light-Emitting Organic Electroluminescent Device[J].Science, 1995(267):1332-1334

　　[4] 應根裕，胡文波，邱勇.平板顯示技術[M].北京:人民郵電出版社, 2002:357-359

　　[5] Nirai Y. Color filter for TFT- LCDS [J].Nippon Insatsu Gakkaishi,1996,33(3):150-154

　　[6] Sabnis R W. Colour filter technology for liquid crystal displays [J]. Displays, 1999, 20: 119-129

　　[7] 陳金鑫, 黃孝文. OLED有機電激發光材料與組件[M].臺北：五南出版社, 2005