邊界掃描與處理器仿真測試(05-100)

　　同一個邊界掃描口可用于兩種測試方法,使結構性測試與功能性測試之間的交換是無縫的。且從上面的論述可知,掃描測試和仿真測試是相輔相成的。例如存儲器件即可使用邊界掃描,也可使用處理器基仿真,但只有前者能驗證存儲器件之間的結構性互連。另一方面,仿真測試是按實際工作頻率全速進行的,且能驗證裝載的軟件版本,保證電路板是在自己的軟件引導下工作的。總之,使用組合方法就可優化測試覆蓋范圍,縮短研發周期。

　　在一個系統中組合兩種測試技術,還能更廣泛應用在產品生存期的各個階段。過去,邊界掃描通常部署在產品的研發階段,用它來糾錯原型電路板,在組裝和生產階段來確定并診斷結構性缺陷。處理器仿真則廣泛地用作功能性測試,幫助現場維修人員糾錯并診斷有故障的微處理器板。具有兩種技術的組合測試平臺讓兩種測試技術用于過去無法使用的產品生存期的各個階段。例如,邊界掃描也可用于生產階段有故障電路板的維修,在追尋有問題系統的原因時,它也是仿真測試的輔助手段。

　　結語

　　由于電路板的多樣性,任何一種測試方法都很難提供滿意的測試覆蓋范圍。將互補的測試方法組合在一起,就有可能增加測試覆蓋范圍。然而隨之而來的問題是,哪些測試方法更有利于組合。選擇邊界掃描測試和處理器仿真測試是因為兩者都能使用JTAG接口。更重要的是,它們的功能是相輔相成的。邊界掃