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        “單正向”柵驅(qū)動IGBT簡化驅(qū)動電路

        ——
        作者:Richard Francis,Peter Wood 時間:2005-10-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          目前,為了防止高dV/dt應(yīng)用于橋式電路中的時產(chǎn)生瞬時集電極電流,設(shè)計人員一般會設(shè)計柵特性是需要負偏置柵驅(qū)動的。然而提供負偏置增加了電路的復(fù)雜性,也很難使用高壓集成電路(HVIC)柵驅(qū)動器,因為這些IC是專為接地操作而設(shè)計──與控制電路相同。因此,研發(fā)有高dV/dt能力的以用于“單正向”柵驅(qū)動器便最為理想了。這樣的器件已經(jīng)開發(fā)出來了。器件與負偏置柵驅(qū)動IGBT進行性能表現(xiàn)的比較測試,在高dV/dt條件下得出優(yōu)越的測試結(jié)果。

          為了理解dV/dt感生開通現(xiàn)象,我們必須考慮跟IGBT結(jié)構(gòu)有關(guān)的電容。圖1顯示了三個主要的IGBT寄生電容。集電極到發(fā)射極電容C,集電極到柵極電容C和柵極到發(fā)射極電容CGE。

          這些電容對橋式變換器設(shè)計是非常重要的,大部份的IGBT數(shù)據(jù)表中都給出這些參數(shù):

          輸出電容,COES=CCE+CGC(CGE短路)

          輸入電容,CIES=CGC+CGE(CCE短路)

          反向傳輸電容,CRES=CGC

          圖2給出了用于多數(shù)變換器設(shè)計中的典型半橋電路。集電極到柵極電容C和柵極到發(fā)射極電容C組成了動態(tài)分壓器。當(dāng)高端IGBT(Q2)開通時,低端IGBT(Q1)的發(fā)射極上的dV/dt會在其柵極上產(chǎn)生正電壓脈沖。對于任何IGBT,脈沖的幅值與柵驅(qū)動電路阻抗和dV/dt的實際數(shù)值有直接關(guān)系。IGBT本身的設(shè)計對減小C和C的比例非常重要,它可因此減小dV/dt感生電壓幅值。

          如果dV/dt感生電壓峰值超過IGBT的閥值,Q1產(chǎn)生集電極電流并產(chǎn)生很大的損耗,因為此時集電極到發(fā)射極的電壓很高。

          為了減小dV/dt感生電流和防止器件開通,可采取以下措施:

          關(guān)斷時采用柵極負偏置,可防止電壓峰值超過V,但問題是驅(qū)動電路會更復(fù)雜。
        減小IGBT的CGC寄生電容和多晶硅電阻Rg’。
        減小本征JFET的影響

          圖3給出了為反向偏置關(guān)斷而設(shè)計的典型IGBT電容曲線。CRES曲線(及其他曲線)表明一個特性,電容一直保持在較高水平,直到V接近15V,然后才下降到較低值。如果減小或消除這種“高原”(plateau) 特性,C的實際值就可以進一步減小。

          這種現(xiàn)象是由IGBT內(nèi)部的本征JFET引起的。如果JFET的影響可以最小化,C和C可隨著VCE的提高而很快下降。這可能減小實際的CRES,即減小dV/dt感生開通對IGBT的影響。

          IRGP30B120KD-E是一個備較小C和經(jīng)改良JFET的典型IGBT。這是一個1200V,30A NPT IGBT。它是一個Co-Pack器件,與一個反并聯(lián)超快軟恢復(fù)二極管共同配置于TO-247封裝。

          設(shè)計人員可減小多晶體柵極寬度,降低本征JFET的影響,和使用元胞設(shè)計幾何圖形,從而達到以上的目標(biāo)。

          對兩種1200V NPT IGBT進行比較:一種是其他公司的需負偏置關(guān)斷的器件,一種是IR公司的NPT單正向柵驅(qū)動IRGP30B120KD-E。測試結(jié)果表明其他公司的器件在源電阻為56Ω下驅(qū)動時,dV/dt感生電流很大。

          比較寄生電容的數(shù)據(jù),IR器件的三種電容也有減小:

          輸入電容,CIES減小25%
          輸出電容,COES減小35%
          反向傳輸電容,CRES減小68%

          @V=0V
           CS (pF)
           CS (pF)
           CS (pF)
         
          負偏置柵驅(qū)動IGBT
           4000
           1400
           1100
         
          IRGP30B120KD-E
           3000
           900
           350
         
          圖5顯示出IR器件的減小電容與V的關(guān)系,得出的平滑曲線是由于減小了JFET的影響。當(dāng)V=0V時,負偏置柵驅(qū)動器件的C為1100pF,IRGP30B120KD-E只有350pF,當(dāng)VCE=30V時,負偏置柵驅(qū)動器件的C為170pF,IRGP30B120KD-E的CRES為78pF。很明顯,IRGP30B120KD-E具有非常低的C,因此在相同的dV/dt條件下dV/dt感生電流將非常小。

          測試條件:

          電壓率,dV/dt=3.0V/nsec
          直流電壓,Vbus=600V
          外部柵到發(fā)射極電阻Rg=56Ω
          環(huán)境溫度,TA=125



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