ATE參加SEMICON/China 展會

 

    Nextest 將展示能應對與高容量閃存、邏輯、系統芯片 (SOC) 和圖像傳感器等設備類型相聯系的測試挑戰的產品。這些解決方案的設計能在降低測試成本的同時，提升容量、產量和可靠性。

 

    Nextest 將在 SEMICON/China 展會第2000號展位展示下列測試解決方案：

 

    Magnum iCP-EV

 

    該128引腳的 Magnum iCP-EV “個人”測試系統是同類首創型產品，并且是首次進行展示。針對 CMOS 圖像傳感器市場而設計的 Magnum iCP-EV 為 CMOS 圖像傳感器制造商提供了一種可選的用于程序開發及調試的低成本設計解決方案。由于該測試器體積小，在把設備送至 Magnum iCP 進行大規模生產測試之前，在辦公室環境下就可進行必要的設計工作。這種新穎的方法可以實現向并行測試 CMOS 圖像傳感器設備的平穩過渡，并且這種方法的成本效益與使用昂貴的大型測試設備進行必須的工程設計工作相比要好得多。CMOS 圖像傳感器設備如今正被用于無數的消費產品，例如：手機、相機、網絡攝像頭、個人數字助理以及監控攝像頭等，而在不遠的將來還將有大量新的應用出現。

 

    Magnum SV

 

    同時在 SEMICON/China 展示的還有1280引腳的 Magnum SV 測試系統。針對高成長的閃存、邏輯和系統芯片市場而設計的 Magnum SV 是高效的生產測試解決方案，能顯著提高產量并縮短測試時間。在與合適的探測器或處理器結合使用時，Magnum SV 創建的界面解決方案能夠并行測試多達160個設備，適用于成本敏感型的消費數字產品市場。憑借 Magnum 靈活的架構，各系統能在 Magnum PV 實現最少128引腳的配置，而用 Magnum Grande 實現多達7680引腳和960個點的配置。此外，所有 Magnum 系列采用相同的操作軟件、測試程序、內部元件和備件 -- 從而消除了與培訓和備件庫存相關的額外成本。