利用觸發同步源表進行VCSEL測試

垂直腔面發射激光器（VCSEL）正在逐步代替傳統的邊發射激光器，特別是成本因素特別重要的低帶寬和短距通信系統中。邊發射激光器在測試之前必須從晶圓上切割下來，并磨光邊沿，而VCSEL廠家可以在晶圓級測試其器件。

光強度（L）－電流（I）－電壓（V）掃描是確定VCSEL工作特性而進行的一系列測量。LIV測試需要有斜波電流通過VCSEL，并利用光電探測器（PD）測量產生的光輸出。
圖 7?29所示為一個簡單的晶圓級測試系統。使用了兩臺2400型源表。一個晶圓探針通過一塊探針卡電氣連接到每個器件。探針臺也將光探測器定位到器件的正上方。當來自VCSEL的光照射到反向偏壓的PD時，漏流將增大。漏流的幅值與照射到有源區的光密度相關聯。

圖 7?29 VCSEL的晶圓級測試

切換配置

如果探針卡能同時連接多個器件，那么就可以利用如圖 7?30所示的系統，在探針卡每次連接到晶圓時同時測試所有的器件。

選擇個體VCSEL進行測試，該VCSEL的相應繼電器被閉合，并利用PD來檢查光密度。源表首先進行必要的直流測試，例如正向偏壓、反向擊穿電壓和漏流。然后強加足夠的電流照射VCSEL，第二塊2400測量PD增加的漏泄。在完成該項測試后，則選擇下一個器件的切換通道。

根據測試規范的電流靈敏度要求，可利用2400或6517A測量PD。2400可用于測量大約10nA的電流，而6517A則能可靠測量小于10fA的電流。

7011型多路選通卡的偏移電流技術指標為100pA，可能會超過測試系統的允許誤差。代之以7158型小電流掃描卡可把偏移值降低至1pA。注意，由于小電流開關卡僅有10個通道用于掃描，所以使用小電流開關卡將降低系統中可用通道的數量。