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        3D SiC技術閃耀全場,基本半導體參展PCIM Asia引關注

        作者:基本半導體 時間:2018-07-02 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          6月26日-28日,成功參展PCIM?Asia 2018上海國際電力元件、可再生能源管理展覽會。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201807/382607.htm

          展臺以充滿科技感和未來感的藍白為主色調(diào),獨有的3D SiC?技術和自主研發(fā)的吸引了眾多國內(nèi)外參展觀眾的眼球。


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          全球獨創(chuàng)3D SiC?技術

          展會期間,技術團隊詳細介紹了公司獨創(chuàng)的3D SiC?外延技術,該技術能夠充分利用碳化硅的材料潛力,通過外延生長結構取代離子注入,使碳化硅器件在高溫應用中擁有更高的穩(wěn)定性。優(yōu)良的外延質(zhì)量和設計靈活性也有利于實現(xiàn)高電流密度的高壓器件。


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          碳化硅肖特基二極管

          基本半導體碳化硅肖特基二極管提供行業(yè)標準封裝,具有優(yōu)越的性能和極高的工作效率。其中650V、1200V和1700V 的肖特基二極管采用特有的嵌入式結構,反向漏電流比傳統(tǒng)結構低3個數(shù)量級,更利于高溫(250℃)環(huán)境下工作,抗浪涌電流能力強,正向壓降低,各項性能達到國際先進水平。


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          碳化硅MOSFET

          基本半導體碳化硅MOSFET具有低的 RDS(ON),開關性能優(yōu)良,可提高器件工作效率,減小芯片面積。同時能在更高的開關頻率下,通過更低的熱損耗實現(xiàn)高效率。碳化硅 MOSFET可在電機驅(qū)動器、開關電源、光伏逆變器和UPS等領域廣泛使用。


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          基本半導體生產(chǎn)的碳化硅外延片低摻雜層厚度可高達250μm,具有極低的缺陷密度和高均勻性,可生產(chǎn)3.3千伏以上的高壓器件和1萬伏以上的超高壓器件,主要應用于軌道交通、智能電網(wǎng)、醫(yī)療設備和國防軍工等領域。


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          此外,基本半導體研發(fā)的全碳化硅模塊和混封碳化硅模塊也在展會一一亮相,參觀人流絡繹不絕。

          基本半導體副總經(jīng)理張振中博士在同期舉行的電力電子應用技術論壇發(fā)表主題演講,介紹公司高性能的3D SiC JBS Diode,吸引了眾多業(yè)內(nèi)人士的關注,在演講結束后與張博士進行了深入交流和探討。

          PCIM Asia 2018已經(jīng)完美落幕,基本半導體將在推動中國第三代半導體發(fā)展的征途中繼續(xù)揚帆起航,凝心聚力鑄就輝煌。



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