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        一種UHF無源RFID標簽芯片阻抗測試方法研究

        作者: 時間:2011-07-18 來源:網絡 收藏

        射頻識別(Radio Frequency Identification)系統由閱讀器和電子組成,天線是閱讀器和電子通信的橋梁。為了使閱讀器發射的射頻能量最大限度地被天線所吸收,理論要求電子標簽天線和標簽達到共軛匹配。即頻段值,直接決定著電子標簽天線設計,進而影響電子標簽的性能。
        頻段電子標簽采用反射調制原理工作,其原理決定了電子標簽具有頻段、無源、時變性、非線性等復雜特性,尤其是對于尺寸不足1 mm2的單芯片,本身即存在著尺寸小、射頻影響等困難,導致常規的方法很難準確地對電子標簽芯片阻抗進行。本文研究了UHF無源單芯片阻抗方法,通過對標準芯片阻抗測試,對測試方法進行了檢驗。
        1 測試原理
        對于UHF頻段無源電子標簽工作特征而言,由于單芯片工作在UHF頻段,通過標簽芯片pad的任何引線都將產生寄生電容或者寄生電感,從而對芯片阻抗測試產生影響。同時,采用常規的測試方法,引線的長度和寬度很難把握,測試的重復性差,不利于標簽芯片阻抗的準確測試。本文采用傳輸線阻抗匹配網絡對芯片阻抗進行測試,較好地解決了實際測試中面臨的接入困難等問題。
        由分布參數電路理論可知,在UHF頻段,傳輸線的寬度和長度影響著傳輸線特性阻抗值。例如本文所使用的平行雙導線,其工作頻帶很寬,可用于1 GHz以下所有頻率中,平行雙導線的特性阻抗值[3]如式(1)所示:

        式中,a為平行雙導線中心的距離,b為平行雙導線單根導線的寬度。
        利用傳輸線此特性,構建一個傳輸線阻抗匹配網絡模型,如圖1所示。左端為匹配網絡的前端電路,輸入能量為芯片正常工作狀態下的最小功耗,參考阻抗可以用一個阻抗為50 Ω的電阻R0代替。終端開路的λ/4的傳輸線相當于短路,實現阻抗變換,在λ/4傳輸線末端并聯一段終端短路的短截線,此段短截線相當于一個感抗元件。芯片一般呈現容性,并聯在λ/4傳輸線末端,通過改變短截線終端與芯片的距離Lλ,可以改變短截線引入的感抗大小,進而與芯片阻抗達到共軛匹配。當芯片與匹配網絡達到共軛匹配狀態時,芯片兩端的回波損耗S11最小,即芯片幾乎吸收了前端電路傳輸的所有能量,并且是正常工作的最小能量。通過觀察回波損耗S11的值,用以確定最優的傳輸線阻抗Z0以及短截線距離芯片的長度Lλ,反推此時的阻抗網絡,即可獲得無源RFID標簽芯片在工作狀態時的輸入阻抗。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/156042.htm


        圖2為阻抗匹配網絡的等效電路,YR0代表電阻R0經λ/4傳輸線變換后的輸入導納,Ys代表末端短路的短接線在芯片連接處的輸入導納,Ychip代表芯片的輸入導納。Ychip和YR0、Ys相并聯。由傳輸線相關理論[4]可得:


        實際測試模型如圖3所示,讀寫器和可調衰減器通過同軸線相連,其輸出口參考阻抗均為50 Ω。運行讀寫器,將其頻率設置為915 MHz,通過調節可調衰減器,減小輸入阻抗匹配網絡的能量,同時調節傳輸線阻抗Z0以及短截線終端距離芯片的距離Lλ,使芯片能夠獲得正常工作的最小能量。此時,將Z0和Lλ的值代入式(8)即可得到芯片在最低功耗下的阻抗值。


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