無源RFID標簽芯片靈敏度測試方法研究
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從以上分析可以知道，任何時候，安裝有芯片的SMA連接器只有2種接法，或者連接到標簽測試儀，或者連接到矢量網絡分析儀，如圖2所示。RFID測試儀和矢量網絡分析儀的輸出阻抗均為Z0=50Ω。本文引用地址：http://www.104case.com/article/155121.htm
測試過程中，矢量網絡分析儀能量設置為某一頻率下的最小功耗Pmin(由標簽測試儀獲取的標簽芯片最小可工作功率)。芯片工作在最小功耗下，由于安裝芯片的SMA頭和同軸線的損耗可以忽略不計，因此，所有輸入的能量或者被芯片吸收，或者全部被反射回來。由于傳輸線與標簽芯片失配，標簽芯片所接收的能量可以通過式(1)計算，即可以得到芯片的能量靈敏度。
Pth=PminTtag=Pmin(1-|Γtag|2) (1)
式中：Ttag是能量傳輸系數；|Γtag|2是能量反射系數，1-|Γtag|2即為能量傳輸系數Ttag；Pmin為利用標簽測試儀測得的某一個頻率下芯片的最低功耗；Pth為芯片的能量靈敏度。實際測試中，利用標簽測試儀測得芯片的最低功耗Pmin，將矢量網絡分析儀的能量設置為Pmin，測試芯片的反射系數Γ的值，代入式(1)即可得到芯片的靈敏度。
2 芯片靈敏度測試結果
圖3將安裝有NXP_G2XM芯片的SMA頭通過同軸線連接到標簽測試儀衰減器的輸出端口，掃描芯片工作所需的最低功耗Pmin隨頻率變化的情況。從圖中可以看出，在標簽芯片和傳輸線不匹配的情況下，直接得到芯片功耗隨頻率變化掃描出的曲線。在800～1 000 MHz頻段內，每隔10 MHz采集一個功耗值，由于測試時在標簽測試儀的輸出口串接20 dB衰減器，因此實際功耗值如圖4所示。
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