RF芯片測試夾具在微波測量中的應(yīng)用

圖六、TRL校準界面

TRL校準向?qū)?/strong>

如果使用8753ES網(wǎng)分，校準操作如下：

放入校準件THRU選擇THEU校準選項;

放入校準件SHORT選擇雙端口的兩個SHORT校準選項;

放入校準件LINE選擇LINE校準選項，選BOTH(雙端口同時校準)鍵，頻段分段選2-7line;

隔離選項選取忽略。

按下DONE鍵，儀表通過選取的誤差模型計算校準，計算完成后選取FORMAT更改顯示模式為SWR，讀出THRU或者LINE校準件的駐波讀數(shù)，判定校準是否準確。一般來說讀數(shù)在1.00X~1.02X之間波動。如數(shù)值過大需重新校準。如果需要測量相位則需測量THRU校準件S21的相位和SHORT校準件S11的相位，兩個值應(yīng)相差180度。下圖是一種型號產(chǎn)品校準后的圖形。

圖七、AFX200校準后數(shù)據(jù)

3、加電測試

校準完成，放入核心滑塊，固定好元器件，通過BIAS TEE 加上直流電壓，根據(jù)放大管特性可通過調(diào)節(jié)柵極電壓調(diào)節(jié)漏極電流。注意先加漏極電壓避免元件燒毀。

跟據(jù)測量需要按MARKER鍵選取測量點測量所關(guān)心的S參數(shù),FORMAT格式可選極坐標或SMITH圓圖，改變MARKER位置(測試頻率)，得到S11、S21、S12、S22在各頻率下的模值和相位。

AFX100A型功能版1#夾具對安捷倫經(jīng)典管型ATF54143的兩次測量數(shù)據(jù)以及廠家數(shù)據(jù)S11、S21在SMITH圓圖和極坐標上的位置。

分析：在不同的環(huán)境下，放大器的匹配必須通過直接測量獲得準確參數(shù)，廠家所提供的數(shù)據(jù)是批生產(chǎn)管型的典型參數(shù)。測量結(jié)果和廠家提供的參數(shù)曲線有一定的區(qū)別，這正是使用夾具對場效應(yīng)管進行測量的原因。

使用測量數(shù)據(jù)的對放大器進行仿真曲線

使用廠家數(shù)據(jù)對同一放大器仿真曲線

實際放大器的測量結(jié)果：2GHz增益為11.5dB，2.5GHz增益為8.4dB。測試的數(shù)據(jù)計算結(jié)果比廠家提供的數(shù)據(jù)計算結(jié)果更接近實際的測試曲線。