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        燦芯半導體第一顆40nm芯片驗證成功

        作者: 時間:2011-06-21 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
                (上海)有限公司與中芯國際集成電路制造有限公司(簡稱“中芯國際”,紐約證交所股票代碼:SMI,香港聯(lián)合交易所股票代碼:HK0981)今天共同宣布第一顆 在中芯國際一次性流片驗證成功。
         
                與新思科技有限公司(Synopsys, Inc.,)及中芯國際深度合作,使燦芯自主研發(fā)的 一次性流片成功。這顆芯片集成了 Synopsys DesignWare(R) 嵌入式存儲器和邏輯庫,以及中芯國際自主研發(fā)的 PLL、I/O 等關鍵 IP 部件,成功驗證了燦芯半導體在 40nm 工藝線上的前端和后端設計流程。

                燦芯半導體總裁兼首席執(zhí)行官職春星博士說:“燦芯半導體不僅擁有高素質的設計團隊,而且一直以嚴謹?shù)膽B(tài)度對待每次設計,這使得我們的驗證能夠一次性成功。的驗證成功,對燦芯半導體來說是一次飛躍,標志著燦芯已經(jīng)躋身于世界先進設計服務公司行列。”

                新思科技中國區(qū)總經(jīng)理李明哲表示:“新思科技與燦芯半導體這一次成功合作,體現(xiàn)了我們?yōu)榇_保加速客戶的設計流片過程做出的努力。燦芯半導體 40nm 芯片的驗證成功,不僅證明了新思科技的參考設計流程與中芯國際 40nm 工藝線的成功結合,同時也展示了燦芯半導體深厚的設計實力。”

                中芯國際商務長季克非說:“很高興看到燦芯半導體 40nm 芯片在中芯國際驗證成功。這次三方共同努力的成果證明了中芯國際 40nm 先進工藝平臺已具備支持尖端設計項目的能力。希望燦芯半導體繼續(xù)與客戶緊密合作,早日在 40nm 制程上實現(xiàn)量產(chǎn)。”


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