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        測(cè)試 文章 最新資訊

        直流電子負(fù)載在汽車電子測(cè)試中的應(yīng)用

        • 一. 背景分析 汽車電子是車體以及車載汽車電子控制裝置的總稱,包括發(fā)動(dòng)機(jī)控制系統(tǒng)、底盤控制系統(tǒng)和車身電子控制系統(tǒng)等。汽車作為人們?nèi)粘3鲂械拇焦ぞ撸囯娮幼钪匾淖饔镁褪翘岣咂嚨陌踩浴⑹孢m性、經(jīng)濟(jì)
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        數(shù)字電源管理芯片ZL2105的性能及性能測(cè)試設(shè)計(jì)

        • Zilker Labs的ZL2105新型數(shù)字DC/DC轉(zhuǎn)換器電源管理芯片通過(guò)數(shù)字實(shí)施的監(jiān)控提供傳統(tǒng)模擬方案的高效率,無(wú)需進(jìn)行編程,很適合需要3A電流且空間受限的應(yīng)用。本文介紹該芯片的性能及性能測(cè)試設(shè)計(jì)。  ZL2105 將ZL2005的數(shù)
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        如何進(jìn)行真正有效的3G互操作測(cè)試?

        • 互操作測(cè)試(IOT)是多廠商運(yùn)營(yíng)環(huán)境形成的技術(shù)基礎(chǔ)。只有完成Iu接口的互操作測(cè)試,才能保證不同廠家的無(wú)線接入網(wǎng)與核心網(wǎng)的互聯(lián)互通,也只有完成Uu接口的互操作測(cè)試,才能保證每一款手機(jī)與無(wú)線接入系統(tǒng)之間的互聯(lián)互通
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        基于虛擬儀器的感應(yīng)電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

        • 以非接觸式的電機(jī)轉(zhuǎn)速測(cè)量方法為核心,基于虛擬儀器和LabVIEW設(shè)計(jì)了一種感應(yīng)電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了同步、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電機(jī)的轉(zhuǎn)速、三相電壓和三相電流等多路信號(hào),并對(duì)采得的信號(hào)可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)存儲(chǔ)、動(dòng)態(tài)回放和分析處理以及圖形打印等功能。通過(guò)部分試驗(yàn)測(cè)試表明了系統(tǒng)的功能和特點(diǎn)。
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        教你如何在測(cè)試中選擇數(shù)字示波器

        • 摘要:文章結(jié)合數(shù)字示波器的幾個(gè)主要性能指標(biāo),對(duì)其實(shí)現(xiàn)信號(hào)完整性的能力進(jìn)行了分析,并提出了在測(cè)試過(guò)程中選擇適合數(shù)字示波器的參考依據(jù)。  數(shù)字示波器是一種通用測(cè)試儀表,本質(zhì)上是一種圖形顯示設(shè)備,相當(dāng)于具有
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        分布式導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

        • 針對(duì)目前導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng)重復(fù)配置、測(cè)試資源無(wú)法得到充分利用的現(xiàn)狀,以LXI總線為基礎(chǔ),綜合各種儀器總線的優(yōu)勢(shì),構(gòu)建了一種多總線融合的分布式導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng),在ATML(自動(dòng)測(cè)試標(biāo)記語(yǔ)言)基礎(chǔ)上進(jìn)行了系統(tǒng)軟件的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn),達(dá)到測(cè)試資源共享、分散操作、集中管理的目的。深入研究了不同總線儀器融合、不同接口模塊同步觸發(fā)的解決途徑,為實(shí)現(xiàn)儀器可互換性和可移植性奠定了基礎(chǔ)。系統(tǒng)較好地滿足了當(dāng)前導(dǎo)彈保障領(lǐng)域的需求,具有一定的工程應(yīng)用價(jià)值。
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        安捷倫推出業(yè)界首款符合eMMC標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試應(yīng)用軟件

        • 安捷倫科技公司(NYSE:A)日前推出業(yè)界第一款符合 eMMC(嵌入式多媒體卡)標(biāo)準(zhǔn)、適用于嵌入式存儲(chǔ)解決方案的測(cè)試應(yīng)用軟件。Agilent N6465A eMMC 測(cè)試應(yīng)用軟件可在 Agilent Infiniium 9000、90000A、90000 X 和 90000 Q 系列示波器上自動(dòng)執(zhí)行一系列參數(shù)測(cè)試,包括電氣和計(jì)時(shí)測(cè)量,幫助存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)工程師更快地驗(yàn)證和調(diào)試 eMMC NAND 閃存卡。
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        本土芯片測(cè)試企業(yè)在逐漸壯大

        • ?????????????????????????? “中國(guó)芯”企業(yè)成長(zhǎng)十年有余,也催生了一批芯片/晶圓片(wafer)測(cè)試企業(yè)。例如上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司,2001年初創(chuàng)時(shí)期,國(guó)內(nèi)IC產(chǎn)業(yè)鏈還不夠完善,很多初創(chuàng)和
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        Qualcomm使用NI VST進(jìn)行802.11ac測(cè)試,改進(jìn)測(cè)試速度和范圍

        • 就傳統(tǒng)儀器而言,每次測(cè)試大約會(huì)取得40個(gè)重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點(diǎn)。 NI PXI矢量信號(hào)收發(fā)儀的測(cè)試速度非常快,因此能執(zhí)行完整的增益表掃頻,進(jìn)而采集共300,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。
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        嵌入式系統(tǒng)軟件測(cè)試及測(cè)試案例開(kāi)發(fā)

        • 嵌入式系統(tǒng)軟件測(cè)試及測(cè)試案例開(kāi)發(fā),測(cè)試是傳統(tǒng)軟件開(kāi)發(fā)的最后一步。整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程,需要收集要求、進(jìn)行高層次的設(shè)計(jì)、詳細(xì)設(shè)計(jì)、創(chuàng)建代碼、進(jìn)行部分單元測(cè)試,然后集成,最后才開(kāi)始最終測(cè)試。最佳的開(kāi)發(fā)實(shí)踐應(yīng)包含代碼檢查這個(gè)步驟。然而代碼檢查一
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        基于STM32單片機(jī)的火控系統(tǒng)信號(hào)采集測(cè)試

        • 基于STM32單片機(jī)的火控系統(tǒng)信號(hào)采集測(cè)試,火控系統(tǒng)是控制火炮瞄準(zhǔn)和發(fā)射的系統(tǒng),火控計(jì)算機(jī)是火控系統(tǒng)的核心,在完成火控解算進(jìn)而引導(dǎo)高炮射擊時(shí)具有重要作用。由于火控系統(tǒng)信號(hào)眾多,狀態(tài)復(fù)雜,對(duì)其關(guān)鍵信號(hào)的采集測(cè)試就顯得尤為重要[1].普通信號(hào)采集測(cè)試裝
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        飛針測(cè)試儀電子模塊測(cè)試問(wèn)題及解決方法

        • 摘要:重點(diǎn)討論了飛針在線測(cè)試技術(shù)在電子模塊測(cè)試中的測(cè)試與實(shí)現(xiàn)。介紹了飛針測(cè)試原理,闡述了電子模塊飛針測(cè)試的流程以及測(cè)試中電子模塊,提出了短路測(cè)試中出現(xiàn)的問(wèn)題的解決辦法,以及NOD文件的快速修改技巧,并且詳
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        PCIE 3.0的動(dòng)態(tài)均衡測(cè)試挑戰(zhàn)

        • 一、PCIE 3.0中使用的動(dòng)態(tài)均衡概念因?yàn)镻CIE 3.0信號(hào)的速率可以達(dá)到8Gb/s,而且鏈路通道走線也可能會(huì)很長(zhǎng),這可能會(huì)導(dǎo)致高速信號(hào)衰減過(guò)大,在接收端無(wú)法得到張開(kāi)的眼圖。因此在PCIE 3.0的Tx和Rx端均使用了均衡設(shè)置,以
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        誤碼率分析儀應(yīng)對(duì)高速通信的測(cè)試挑戰(zhàn)

        • 高速總線的速度和復(fù)雜度正在不斷提升,并且提升速度有越來(lái)越快的趨勢(shì)。為了提升通信速率,將多個(gè)高速串行總線并行組織起來(lái)使用,將會(huì)引起串?dāng)_現(xiàn)象。另一個(gè)問(wèn)題是符號(hào)間干擾(ISI)。銅線具有介電效應(yīng),數(shù)據(jù)速率越快,距
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        使用Eye Doctor II工具分析解決測(cè)試著色難題

        • 在信號(hào)完整性測(cè)試中,由于探測(cè)點(diǎn)受限引入的傳輸線延遲,及芯片的寄生參數(shù),會(huì)導(dǎo)致測(cè)試波形在邊沿上有臺(tái)階或回溝。這種因測(cè)試引入的這種差異叫做測(cè)試著色,測(cè)試著色引入的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題一般不用解決,但如何分辨測(cè)試著
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        測(cè)試介紹

          中文名稱:   測(cè)試   英文名稱:   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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