針對未來的任務關鍵設計應采用那種耐輻射平臺？(06-100)

　　對于某些應用而言，數據流中出現個別擾亂并不是災難性的，或不會導致系統故障；圖象處理系統便是一例，因圖象質量并不會因為個別擾亂事件而全體下降。在這種情況下，可以不對個別數位錯誤采取任何緩解措施，因為圖象可能是由數百萬象素構成，或者說是一個視頻流；個別數據錯誤對整體圖象質量的影響只是輕微。然而，對敏感性數據和任務關鍵功能如指令和數據處理、軌道和高度控制及航天器功率管理等，忽視SEU問題并不是恰當的處理方法，有時甚至會引起災難。因此，為了防止SEU誘發錯誤，SRAM FPGA的設計人員開發了能檢測和減少這個影響的緩解技術，包括：配置數位流梳理和修復、利用FPGA 邏輯門實施三重模塊冗余 (TMR)；或在設計層面上采取緩解措施，如添加外部監視電路。不過，這些緩解技術會增加FPGA的門密度，進而增加太空系統的重量和復雜性，這是人們所不愿看到的。

　　與以SRAM為基礎的FPGA不同，以反熔絲為基礎的解決方案具有一次性可編程 (OTP) 的特點。器件一旦完成編程并焊接在板卡上，就不可能重新配置，然而在大多數任務關鍵應用中，很少有可能在設計周期的這個特殊階段變更設計。在許多方面，以反熔絲為基礎的FPGA都比SRAM FPGA更象RH-ASIC。一直以來，反熔絲FPGA都是低門密度的產品，適合于不需要高門密度器件的運載艙應用。然而，隨著高密度反熔絲FPGA的問世 (如Actel的RTAX-S系列，其門密度目前可達兩百萬)，設計人員可考慮在運載艙和有效載荷應用中使用這類器件。

　　以反熔絲為基礎的FPGA除了仍然具備一般FPGA固有的靈活性外，在耐輻射能力方面也比以SRAM為基礎的FPGA更接近ASIC器件。多年的測試證明：耐輻射的反熔絲FPGA具有SEU免疫力，其特性并不會因為隨時間累計TID而產生劣化。盡管FPGA觸發器中存儲的數據仍然可能被宇宙射線所破壞，而這問題現通過實施三重模塊冗余 (TMR) 來解決 ，即每個觸發器都由3個觸發器和一個表決電路來實現。如果其中一個觸發器因重離子轟擊而改變狀態，另外兩個的狀態仍然保持不變，表決電路會在這三個觸發器的輸出端檢測到狀態數據，這樣表決電路輸出端的數據便不會受到影響。這種觸發器稱作具有SEU增強功能的觸發器，是反熔絲FPGA (包括Actel的產品) 的一大特點。這種觸發器的實現并不占用FPGA的任何片上資源，因此用戶可利用整個FPGA而不會造成任何邏輯丟失。通過這種技術改進，設計的幅射數據LETth指標便能超過60MeV-cm2/mg，以滿足當今大多數太空應用的要求。

　　如今的太空系統設計人員在進行應用設計時，必須清楚了解其應用的耐輻射需求。具有耐輻射能力的新型非揮發性FPGA為設計人員提供了新的機會，利用FPGA的可編程特點以較低的工程開銷來縮短開發時間，并實現ASIC解決方案所具備的低功耗特性。隨著太空應用的需求越來越層出不窮，并需要更高的性能、更多的功能和更大的門密度，以及具備抗輻射功能以適應極端的環境，反熔絲FPGA已成為唯一同時具備傳統ASIC和SRAM FPGA所有上述優勢的解決方案。