為存儲器測試開發低成本的解決方案

超越功能測試

在一項設計成功通過所有功能測試之后，工程師能夠獲得被測器件更詳細的特性。公共測試包括描述存取時間和電器規范的特征，例如電壓范圍。采用模塊化測試平臺(例如PXI)的工程師可以擴展他們的測試系統，以包括更多的儀器，如數字化儀、數字萬用表和RF儀器。PXI還提供內置功能，例如為儀器間的相位一致性提供定時和同步功能，并具有構建高通道數測試系統的能力。

采用數字儀器，如NI 6552數字波形發生器/分析儀，工程師可執行存儲器件全部特征的提取，而無需增加額外的測試設備。采用NI LabVIEW這樣的軟件，工程師能夠創建一個測試，掃描用于與存儲器件通信的電平以驗證最小工作電壓。圖3所示在LabVIEW中這種測試的結果。其中，水平軸表示被測電壓，垂直軸表示接收到的錯誤位百分比。從圖中很容易推出存儲器件的最小工作電壓為2.43V。
圖3.存儲器件最小工作電壓的特征。

如果存儲器件被嵌入較大的數字裝置之中，就需要對成品進行額外的測試。工程師通過復用進行驗證設計和數字存儲器件的相同測試設備，可以降低測試成本。因為大多數數字裝置都有相同的基本測試需求、獲取或生成用于分析的測試向量，因而工程師可重新配置硬件和用戶接口，以便在單一平臺上創建廣泛的虛擬儀器。

隨著開發新技術的壓力日益增大，工程師面臨優化其測試成本和測試時間的挑戰。基于PC和FPGA技術的、低成本的商用測試設備，已經幫助工程師實現了在桌面上執行強大的、混合信號原型測試。利用軟件可重配置的硬件，工程師還可以在一臺基于PC的平臺上開發多種定制測試系統。此外，采用虛擬儀器方法，工程師可以通過軟件定義通用測量硬件的功能，因而測試系統就成為驗證存儲器和其它混合信號器件設計的重要策略。