為存儲器測試開發低成本的解決方案

便攜式技術的發展使人們越來越依賴蜂窩電話、PDA和導航系統這類便攜式裝置。隨著處理器技術的不斷進步，過去幾年中大容量存儲器件的設計和開發呈指數級增長。例如，從蘋果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano產品，重新設計的關鍵部件不是速度更快的處理器，而是采用閃存取代了硬盤。這些裝置的可靠性取決于存儲器的正確設計和測試。

在開發和測試存儲器件方面，工程師面臨著許多挑戰。要獲得更低的消費價格，就要不斷削減測試成本和時間。一直以來，設計團隊不得不為每個設計購買或租賃昂貴的高端存儲器測試設備。而PC的普及和FPGA技術的發展則催生出一種用于驗證存儲器件的新型、低成本測試設備。基于PC的混合信號平臺，諸如圖1所示的PXI(用于儀器的PCI擴展)測試系統，可以安裝在工程師的桌面上并提供比其它方案成本更低的、測試所必需的功能。利用這些平臺，工程師可以盡早測試其設計，并將測試貫穿到整個開發過程之中。

本文將探討存儲器測試解決方案的開發以及驗證功能和物理連接所需的測試設備功能。并分析除了滿足存儲器基本功能測試之外，如何擴展測試能力。

存儲器測試的主要目標是驗證存儲器件上的每一個存儲位都能夠可靠地儲存數據。驗證存儲器件所需的關鍵測試包括驗證物理連接、檢查存儲器的每一位并描述器件特征。采用基于PC的平臺，例如PXI，工程師可以利用標準的編程語言(例如NI LabVIEW和C/C++)開發定制、低成本測試系統，以滿足存儲器測試的要求。

驗證物理連接(包括存儲器地址和數據I/O線)對于確保數據被正確存儲在所期望的位置至關重要。地址線規定每一個操作的存儲位置，而雙向數據線負責將數據輸入和輸出存儲器。如果有一個物理連接發生故障，其它測試也會出錯。
圖1：應用于桌面的PXI混合信號測試系統。