基于LabVIEW的存儲(chǔ)器檢測系統(tǒng)研究

摘要：針對(duì)某裝備的存儲(chǔ)器沒有相應(yīng)的測試設(shè)備，測試內(nèi)容比較繁瑣，設(shè)計(jì)了基于LabVlEW的存儲(chǔ)器檢測系統(tǒng)。硬件依托PXI測試總線予以實(shí)現(xiàn)．具有可靠性高．靈活性強(qiáng)的特點(diǎn)。針對(duì)組合存儲(chǔ)器的特點(diǎn)，設(shè)計(jì)了專用的接口適配器，主要用于實(shí)現(xiàn)信號(hào)的同步和調(diào)理。文中分析了存儲(chǔ)器的故障類型，研究March算法并進(jìn)行了擴(kuò)展。系統(tǒng)以LabVIEW作為軟件工具，實(shí)現(xiàn)了對(duì)存儲(chǔ)器的自動(dòng)測試，用數(shù)據(jù)庫實(shí)現(xiàn)了測試算法與測試程序的分離。該系統(tǒng)具有操作容易，可擴(kuò)展性強(qiáng)等特點(diǎn)，有效提高了對(duì)某裝備存儲(chǔ)器的測試效率。
關(guān)鍵詞：存儲(chǔ)器；虛擬儀器；LabVIEW；數(shù)據(jù)庫；March

在電子設(shè)備運(yùn)行過程中，存儲(chǔ)器發(fā)生故障或失效，不僅導(dǎo)致經(jīng)濟(jì)損失，而且還有可能導(dǎo)致災(zāi)難性的后果。因此存儲(chǔ)器的測試也成為當(dāng)今世界的一個(gè)重要問題，在軍事裝備中存儲(chǔ)器正扮演著很重要的角色。目前，基于虛擬儀器設(shè)計(jì)的自動(dòng)測試系統(tǒng)已成為主流，而軟件則是虛擬儀器的核心。在此，以LabVIEW為軟件工具，結(jié)合相應(yīng)的數(shù)字I／O卡，開發(fā)一套用于某裝備存儲(chǔ)器檢測的檢測系統(tǒng)。

1 總體方案及硬件設(shè)計(jì)
1．1 需求分析
該系統(tǒng)所選的被測對(duì)象是某型裝備中的公用存儲(chǔ)器，測試通道有地址總線18根、數(shù)據(jù)總線18根，控制線3根(控制線共7根，其中3根有效)。其中，狀態(tài)輸出信號(hào)表示讀／寫信號(hào)是否有效；讀／寫信號(hào)表示對(duì)RAM的讀／寫操作；數(shù)據(jù)輸出有效信號(hào)表示數(shù)據(jù)輸出是否有效。容量8 KB，讀周期400 ns，寫周期500 ns，供電電壓5 V。
1．2 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)
該硬件系統(tǒng)，以中心計(jì)算機(jī)為主體，以插入其中的數(shù)字I／O卡為功能部件。通過計(jì)算機(jī)控制數(shù)字I／O卡進(jìn)行數(shù)字信號(hào)的輸出和測量。由此可知，系統(tǒng)平臺(tái)的搭建關(guān)鍵是選擇合適的數(shù)字I／O卡。該系統(tǒng)測試的主要信號(hào)有地址信號(hào)、數(shù)據(jù)信號(hào)和控制信號(hào)。考慮到輸出位數(shù)和速度，用NI公司的數(shù)字波形發(fā)生器／分析儀6542，它具有32路可雙向控制的通道，可方便地進(jìn)行信號(hào)輸出和對(duì)信號(hào)的采集。該模塊每個(gè)通道都有1 Mb，8 Mb和64 Mb的板載內(nèi)存，便于測試信息的存儲(chǔ)。
1．3 接口適配器設(shè)計(jì)和端口的分配
接口適配器用于連接被測設(shè)備和測試平臺(tái)。設(shè)計(jì)時(shí)只選用一塊6542模塊，所以只有32個(gè)輸出通道，不能實(shí)現(xiàn)所有信號(hào)的有效同步輸出，設(shè)計(jì)時(shí)需采用數(shù)據(jù)線和地址線共用的原則予以解決。接口適配器的組成框圖如圖1所示。選擇6542的portO～port2作為公用的地址線和數(shù)據(jù)線，port3作為控制線。鎖存器選擇雙向鎖存器，通過鎖存方向控制數(shù)據(jù)的輸入／輸出，片選控制線控制數(shù)據(jù)的鎖存，鎖存輸出控制線控制鎖存器里的數(shù)據(jù)讀出。

2 存儲(chǔ)器測試算法分析
2．1 存儲(chǔ)器故障類型
存儲(chǔ)器故障總體可以分為單個(gè)單元的故障和單元之間的故障兩類。單個(gè)單元的故障包括：粘滯故障(SAF)一個(gè)陣列總是0或1；轉(zhuǎn)換故障(TF)，即一個(gè)特定單元在一定轉(zhuǎn)換序列后不能進(jìn)行0／1翻轉(zhuǎn)；數(shù)據(jù)保持故障(DFR)，即一個(gè)單元在一段時(shí)間后不能保持它的邏輯值等。單元之間的故障主要是耦合故障(CF)，它包括字間故障和字內(nèi)故障。