用2600系列數字源表進行IDDQ測試和待機電流測試

CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產品的制造商需要測量靜態(或“待機”)電源電流用于驗證生產測試質量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態條件下測量VDD電源電流。測試的目的是檢查柵氧化層短路及可能隨時間導致IC失效的其它缺陷。同樣地，帶有雙極晶體管的電池供電產品或其它IC的電源電流也可以在靜態模式下測量。

這些產品類型包括便攜式電池供電的消費性電子產品，例如移動電話、尋呼機和筆記本電腦，以及可植入的醫療設備，例如心臟起搏器和除顫器。這些測試的目標是在給定電池充電電平和工作質量條件下確保產品滿足消費者對更長工作時間的要求。測試必須盡快完成以確保吞吐量符合要求，而且測試必須全面以確保產品質量。

在選擇執行這些測試的測量儀器時，兩項最重要的考慮是速度和準確度。但是，在測量小電流時，有時必須在速度和準確度兩者間做出取舍，所以通常需要用定制硬件完成這些測試。定制硬件的設計時間可能很漫長而且一般不容易維護，而商購的測試系統通常易于使用、容易買到而且節省機架空間。

另一篇吉時利應用筆記介紹了如何用2400系列源表執行IDDQ測試和靜態電流測量。本應用筆記介紹了如何用吉時利最新的2600系列源表實現上述測試。這種新一代源表的產品系列包括單通道2601和雙通道2602。由于具有內建測試腳本處理器(TSPTM)和新的儀器間通信接口(TSP-LinkTM)，2600系列儀器比前幾代源表的功能更強大和更靈活。吉時利提供了每秒能執行約2500次IDDQ測量的測試腳本實例。