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        用2600系列數(shù)字源表進行IDDQ測試和待機電流測試
        
                                                            
          
                    	
        •  CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機”)電源電流用于驗證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS  IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測
          • 
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        2600    數(shù)字源表    IDDQ                          
          • 
                   	
        
                    
        
                
        
                                
        
                    
        基于CMOS電路的IDDQ測試電路設(shè)計
        
                                                            
          
                    	
        • 引言　　測試CMOS電路的方法有很多種，測試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應(yīng)測試，即通常所說的功能測試。功能測試可診斷出邏輯錯誤，但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路，互連橋短路
          • 
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        CMOS  IDDQ  電路  測試                            
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        CMOS電路IDDQ測試電路設(shè)計
        
                                                            
          
                    	
        • 摘要：針對CMOS集成電路的故障檢測，提出了一種簡單的IDDQ靜態(tài)電流測試方法，并對測試電路進行了設(shè)計。所設(shè)計的IDDQ電流測試電路對CMOS被測電路進行檢測，通過觀察測試電路輸出的高低電平可知被測電路是否存在物理缺
          • 
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        電路設(shè)計  測試  IDDQ  電路  CMOS                          
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	共3條
	1/1															1								
	
        
		                
        
	               	
        
                
        
        	
        
            
        
        
        
	
        
	
        
  		
        
    		
        
      			
        
          			
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