低抖動Q開關光電轉換及觸發系統設計
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2．3 電路設計
AVAG02316Tz的輸出信號不能直接作為IXDD415的輸入，采用安森美公司的MC10H116芯片將模擬電平變換成較強抗干擾能力的標準PECL電平，又通過安森美的MC100ELT23將該PECL電平變換成標準的CMOS電平，這樣可以直接作為IXDD415的輸入信號。
為了減小電源噪聲對抖動帶來的不利影響，對于光纖器件及電平轉換芯片電源，不僅采用了電容濾波的方法，而且電源和地線分別串聯1．2 μH電感濾波，對于光纖器件，進一步設計了1個RC濾波電路對該器件的電源進行處理。對于IXDD415，為了獲得低輸出阻抗，一個常用方法是旁路電容的容值高出負載電容兩個數量級，根據負載，旁路電容選擇為4．7μF，0．47 μF，0．1 μF容值的貼片低感脈沖電容。電路設計如圖4所示。本文引用地址：http://www.104case.com/article/179128.htm
3 試驗
對于具有低阻輸出的快信號脈沖，測試時采用了10倍衰減器和50 Ω匹配頭，測試波形如圖5所示。
基準信號指來自延時同步機的同步輸出信號，在對單元進行了5 min預熱后，連續進行了30次試驗，每次試驗間隔20s，試驗數據如表3所示。
延時主要由光纖長度和Q開關光電轉換及驅動單元固有延時兩部分組成，根據該試驗結果，相鄰兩次試驗間最大延時差為0．5 ns，30次試驗延時極差為0．6ns，抖動為0．07ns，達到設計要求。
4 結論
Z裝置同步觸發系統的抖動主要來源于Q開關光電轉換與觸發系統。減小Q開關光電轉換與觸發系統的抖動是Z裝置24個激光觸發氣體閉合開關同步動作的重要技術基礎。因此，本文對Q開關光電轉換及觸發單元的抖動進行了理論分析，給出一般設計原則，并據此設計電路，試驗結果表明信號前沿及抖動滿足設計要求，該單元已應用到Z裝置單路樣機中。在下一步工作中，將進行24路全系統聯試及復雜電磁環境下抗干擾能力測試。
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