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        又是華為!公布“半導體封裝”專利

        發布人:傳感器技術 時間:2023-11-07 來源:工程師 發布文章

        天眼查顯示,華為技術有限公司“半導體封裝”專利公布,申請公布日為10月31日,申請公布號為CN116982152A。

        專利摘要顯示,本公開涉及一種半導體封裝,該半導體封裝包括:第一襯底、半導體芯片、引線框和密封劑。

        圖片來源:天眼查

        專利摘要顯示,本公開涉及一種半導體封裝,該半導體封裝包括:第一襯底、半導體芯片、引線框和密封劑。該密封劑的下主面包括在第一平面中延伸的第一部分、在第二平面中延伸的第二部分、在該第一平面與該第二平面之間的第一過渡區中延伸的第三部分,以及在該第二平面與至少一個引線之間的第二過渡區中延伸的第四部分。該密封劑的該第一部分和該第一襯底的下主面在相同的第一平面中延伸,該第一平面形成該封裝的下散熱表面。該密封劑的該第二部分、該第三部分和該第四部分的尺寸被設置為在該密封劑的該第一部分與該至少一個引線之間保持第一預定義最小距離。

        概念解析:

        先進封裝是指前沿的倒裝芯片封裝(FC,Flip chip)、晶圓級封裝(WLP,Wafer level packaging)、系統級封裝(SiP, System In a Package)和2.5D、3D封裝等,作為提高連接密度、提高系統集成度與小型化的重要方法。

        封裝是指將生產加工后的晶圓進行切割、焊線塑封,使電路與外部器件實現連接,并為半導體產品提供機械保護,使其免受物理、化學等環境因素損失的工藝。先進封裝采用了先進的設計思路和先進的集成工藝,對芯片進行封裝級重構,并且能有效提高系統功能密度的封裝技術。

        先進封裝的四要素是指:RDL,TSV,Bump, Wafer,任何一款封裝,如果具備了四要素中的任意一個,都可以稱之為先進封裝。在先進封裝的四要素中,RDL起著XY平面電氣延伸的作用,TSV起著Z軸電氣延伸的作用,Bump起著界面互聯和應力緩沖的作用,Wafer則作為集成電路的載體以及RDL和介質和載體

        半導體封裝技術由傳統到先進共經歷了四個發展歷程通孔插裝時代表面貼裝時代面積陣列封裝時代和先進封裝時代先進封裝技術是延續摩爾定律的最佳選擇在不提高半導體芯片制程的情況下能夠進一步提高集成度顯現終端產品輕薄短小等效果

        先進封裝發展增大封裝設備需求先進封裝中芯片層數增加芯片厚度需要更加輕薄以減小體積因此減薄設備需求增加ChipLET中芯片變小且數量變多劃片時需要將晶圓切割為更多小芯片先進封裝中劃片機需求的數量和精度都會提升芯片變小且數量提高之后對固晶機的需求量和精度要求都會提升

        1.Bump 凸塊工藝與設備

        凸塊是定向指生長于芯片表面與芯片焊盤直接或間接相連的具有金屬導電特性的突起物凸塊是芯片倒裝必備工藝是先進封裝的核心技術之一

        1凸塊可分為金凸塊銅鎳金凸塊銅柱凸塊焊球凸塊

        金凸塊主要應用于顯示驅動芯片傳感器電子標簽等產品封裝銅鎳金凸塊主要應用于電源管理等大電流需低阻抗的芯片封裝銅柱凸塊主要應用于通用處理器圖像處理器存儲器芯片ASICFPGA電源管理芯片射頻前端芯片基帶芯片功率放大器汽車電子等產品或領域錫凸塊主要應用于圖像傳感器電源管理芯片高速器件光電器件等領域

        2凸塊工藝所需設備各不相同

        金/銅凸塊工藝

        1采用濺射或其他物理氣相沉積的方式再晶圓表面沉積一層 Ti/Cu 等金屬作為電鍍的種子層

        2在晶圓表面涂一定厚度的光刻膠并運用光刻曝光工藝形成所需要圖形

        3對晶圓進行電鍍通過控制電鍍電流大小電鍍時間等從光刻膠開窗圖形底部生長并得到一定厚度的金屬層

        4去除多余光刻膠

        錫凸塊工藝 

        與銅柱凸塊流程相似凸塊結構主要由銅焊盤和錫帽構成差別主要在于焊盤的高度較低同時錫帽合金是成品錫球通過鋼板印刷在助焊劑以及氮氣環境下高溫熔融回流與銅焊盤形成的整體產物錫凸塊一般是銅柱凸塊尺寸的 3~5 倍球體較大可焊性更強

        銅鎳金凸塊工藝

        采用晶圓凸塊的基本制造流程電鍍厚度超過 10μm以上的銅鎳金凸塊新凸塊替代了芯片的部分線路結構優化了 I/O 設計大幅降低了導通電阻

        2.TSV 硅通孔工藝與設備

        TSV Through Silicon Via即硅通孔技術是一種利用垂直硅通孔實現芯片互連的方法相比于傳統引線連接具有更短的連接距離更高的機械強度更薄的芯片厚度更高的封裝密度同時還可以實現異種芯片的互連

        TSV 的制作工藝流程為在硅片上刻蝕通孔側壁沉積金屬粘附層阻擋層和種子層TSV 通孔中電鍍銅金屬作為導體使用化學機械拋光(CMP)將硅片減薄最后疊層鍵合

        3.RDL再布線工藝與設備

        RDL ReDistribution Layer重布線層是實現芯片水平方向互連的關鍵技術可將芯片上原來設計的 I/O 焊盤位臵通過晶圓級金屬布線工藝變換位臵和排列形成新的互連結構

        RDL 需要的設備包括曝光設備PVD 設備等RDL 的工藝流程1形成鈍化絕緣層并開口2沉積粘附層和種子層3光刻顯影形成線路圖案并電鍍填充4去除光刻膠并刻蝕粘附層和種子層5重復上述步驟進行下一層的 RDL 布線

        華為封裝新專利對麒麟的解決方案

        對于麒麟9000s的量產,國內和國外從發售之日起,便不停的研究,最終也沒得出什么結果。但拆機結果有兩點:

        第一,麒麟9000s比麒麟9000大了一圈

        第二,麒麟9000s散熱方面做了特殊結構

        這兩點與華為這份封裝專利不謀而合,尤其是散熱方面,專利里有詳細介紹與解決方案。

        這份專利較為新穎,相較于其他工藝,絕緣、散熱、引線增量較多。

        當前國內龍頭封測廠商均有50%以上收入來自先進封裝業務,在先進封裝技術實現持續突破:

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        關鍵詞: 華為

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