加入技術(shù)交流群
球柵陣列封裝（英語：BGA、Ball Grid Array，以下簡稱BGA）技術(shù)為應(yīng)用在集成電路上的一種表面黏著封裝技術(shù)，此技術(shù)常用來永久固定如微處理器之類的的裝置。
BGA焊接失效問題往往直接關(guān)系到器件的質(zhì)量。基于此，下文針對BGA焊接出現(xiàn)開裂問題作出了分析。
1.外觀分析
說明：一焊點(diǎn)（左）整體開裂（如放大圖所示），另一焊點(diǎn)無異常（右），且二者都呈現(xiàn)向內(nèi)扭偏的狀態(tài)。
說明：由于芯片PAD與PCB 焊盤未中心對齊，整體焊球向內(nèi)扭偏。
說明：開裂焊點(diǎn)特征是從IMC層開裂，開裂面有契合齒紋，斷面平整。Ni層狀態(tài)良好，無腐蝕異常。
說明：未開裂焊點(diǎn)特征是IMC厚度主要在1μm左右，呈現(xiàn)晶枝狀特征，符合客戶提供標(biāo)準(zhǔn)要求。
說明：對焊點(diǎn)IMC層的成分分析表明其成分主要為Ni、Cu、Sn，含量比正常。Ni層P含量6.28%，在正常范圍內(nèi)。
從上述檢測分析結(jié)果判斷， BGA有形成IMC層，焊點(diǎn)斷口平齊，在1.65μm左右，且有契合齒特征，因此可推斷焊點(diǎn)應(yīng)是在成型后，受到外部應(yīng)力的作用，導(dǎo)致IMC整體脆斷。同時應(yīng)力點(diǎn)集中于FPC焊盤側(cè)，表明應(yīng)力可能是由FPC側(cè)傳導(dǎo)而來。
注：由于送樣切片樣品（僅兩個焊點(diǎn)）只能顯示一個剖面的狀態(tài)，焊點(diǎn)受到何種應(yīng)力作用需要從原始外觀或者整體斷面上分析斷裂痕跡。
本篇文章介紹了BGA焊接開裂失效的分析案例。如需轉(zhuǎn)載本篇文章，后臺私信獲取授權(quán)即可。若未經(jīng)授權(quán)轉(zhuǎn)載，我們將依法維護(hù)法定權(quán)利。原創(chuàng)不易，感謝支持！
新陽檢測中心將繼續(xù)分享關(guān)于PCB/PCBA、汽車電子及相關(guān)電子元器件失效分析、可靠性評價、真?zhèn)舞b別等方面的專業(yè)知識，點(diǎn)擊關(guān)注獲取更多知識分享與資訊信息。
最后，如您有相關(guān)檢測需求，歡迎咨詢。
