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        測試 文章 最新資訊

        長電科技焊線封裝技術(shù)

        • 焊線封裝技術(shù)焊線形成芯片與基材、基材與基材、基材與封裝之間的互連。焊線被普遍視為最經(jīng)濟(jì)高效和靈活的互連技術(shù),目前用于組裝絕大多數(shù)的半導(dǎo)體封裝。長電技術(shù)優(yōu)勢長電科技可以使用金線、銀線、銅線等多種金屬進(jìn)行焊線封裝。作為金線的低成本替代品,銅線正在成為焊線封裝中首選的互連材料。銅線具有與金線相近的電氣特性和性能,而且電阻更低,在需要較低的焊線電阻以提高器件性能的情況下,這將是一大優(yōu)勢。長電科技可以提供各類焊線封裝類型,并最大程度地節(jié)省物料成本,從而實現(xiàn)最具成本效益的銅焊線解決方案。解決方案LGABGA/FBGA
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        長電科技MEMS與傳感器封裝技術(shù)

        • ?MEMS與傳感器隨著消費者對能夠?qū)崿F(xiàn)傳感、通信、控制應(yīng)用的智能設(shè)備的需求日益增長,MEMS 和傳感器因其更小的尺寸、更薄的外形和功能集成能力,正在成為一種非常關(guān)鍵的封裝方式。MEMS 和傳感器可廣泛應(yīng)用于通信、消費、醫(yī)療、工業(yè)和汽車市場的眾多系統(tǒng)中。長電技術(shù)優(yōu)勢憑借我們的技術(shù)組合和專業(yè) MEMS 團(tuán)隊,長電科技能夠提供全面的一站式解決方案,為您的量產(chǎn)提供支持,我們的服務(wù)包括封裝協(xié)同設(shè)計、模擬、物料清單 (BOM) 驗證、組裝、質(zhì)量保證和內(nèi)部測試解決方案。長電科技能夠為客戶的終端產(chǎn)品提供更小外形
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        長電科技倒裝封裝技術(shù)

        • 倒裝封裝技術(shù)在倒裝芯片封裝中,硅芯片使用焊接凸塊而非焊線直接固定在基材上,提供密集的互連,具有很高的電氣性能和熱性能。倒裝芯片互連實現(xiàn)了終極的微型化,減少了封裝寄生效應(yīng),并且實現(xiàn)了其他傳統(tǒng)封裝方法無法實現(xiàn)的芯片功率分配和地線分配新模式。長電技術(shù)優(yōu)勢長電科技提供豐富的倒裝芯片產(chǎn)品組合,從搭載無源元器件的大型單芯片封裝,到模塊和復(fù)雜的先進(jìn) 3D 封裝,包含多種不同的低成本創(chuàng)新選項。解決方案FCBGAfcCSPfcLGAfcPoPFCOL - Flip Chip on Leadframe
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        長電科技系統(tǒng)級封裝技術(shù)

        • 系統(tǒng)級封裝(SiP)半導(dǎo)體公司不斷面臨復(fù)雜的集成挑戰(zhàn),因為消費者希望他們的電子產(chǎn)品體積更小、速度更快、性能更高,并將更多功能集成到單部設(shè)備中。半導(dǎo)體封裝對于解決這些挑戰(zhàn)具有重大影響。當(dāng)前和未來對于提高系統(tǒng)性能、增加功能、降低功耗、縮小外形尺寸的要求,需要一種被稱為系統(tǒng)集成的先進(jìn)封裝方法。系統(tǒng)集成可將多個集成電路 (IC) 和元器件組合到單個系統(tǒng)或模塊化子系統(tǒng)中,以實現(xiàn)更高的性能、功能和處理速度,同時大幅降低電子器件內(nèi)部的空間要求。長電技術(shù)優(yōu)勢長電科技在SiP封裝的優(yōu)勢體現(xiàn)在3種先進(jìn)技術(shù):雙面塑形技術(shù)、EM
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        長電科技晶圓級封裝技術(shù)

        • 晶圓級封裝技術(shù)晶圓級封裝(WLP)與扇出封裝技術(shù)當(dāng)今的消費者正在尋找性能強(qiáng)大的多功能電子設(shè)備,這些設(shè)備不僅要提供前所未有的性能和速度,還要具有小巧的體積和低廉的成本。這給半導(dǎo)體制造商帶來了復(fù)雜的技術(shù)和制造挑戰(zhàn),他們試圖尋找新的方法,在小體積、低成本的器件中提供更出色的性能和功能。長電技術(shù)優(yōu)勢長電科技在提供全方位的晶圓級技術(shù)解決方案平臺方面處于行業(yè)領(lǐng)先地位,提供的解決方案包括扇入型晶圓級封裝 (FIWLP)、扇出型晶圓級封裝 (FOWLP)、集成無源器件 (IPD)、硅通孔 (TSV)、包封芯片封裝 (EC
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        連接、充電等標(biāo)準(zhǔn)不斷升級 測試與認(rèn)證需要高效專業(yè)的解決方案

        • 1? ?連接技術(shù)如何實現(xiàn)連通革命性的技術(shù)測試和讓連接設(shè)備正常運行,比以往任何時候都更具有挑戰(zhàn)性。下圖顯示了目前整個連接的設(shè)備和市場容量不斷增加。而且現(xiàn)在大部分?jǐn)?shù)據(jù)是以無線的形式互聯(lián)。下圖是常用的一些用戶接口,其速度也在增加,例如PCI express的速率從16Gbps上升到64Gbps。USB是常用的連接鼠標(biāo)、控制面板和主板之間的連接接口。過去其傳輸速率不是很高,但近年增長很快,已從上一代USB3.2的10Gbps,增長到最新一代USB4的40Gbps了。HDMI是常見的音視頻的接口
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        史密斯英特康應(yīng)對5G時代下高頻芯片測試挑戰(zhàn)

        • 在全球半導(dǎo)體市場規(guī)模不斷增長,新能源汽車需求不斷釋放、5G智能手機(jī)以及終端電子產(chǎn)品逐步放量等利好因素支撐下,半導(dǎo)體行業(yè)推動封測環(huán)節(jié)持續(xù)向好。同時,隨著大批新建晶圓廠產(chǎn)能釋放,主流代工廠產(chǎn)能利用率提升,晶圓廠的產(chǎn)能擴(kuò)張也將助推封裝企業(yè)需求擴(kuò)大。Yole統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示,2020年全球封測市場規(guī)模達(dá)到594億美元,同比增長5.3%,國內(nèi)封測市場規(guī)模為2510億元,同比增長6.8%。全球范圍內(nèi),封裝測試產(chǎn)業(yè)市場需求旺盛,具有廣闊的市場空間。隨著天線集成在封裝中,封裝變得越來越復(fù)雜,為了保證出廠的芯片品質(zhì),芯片測試環(huán)
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        5G對射頻元器件提出更高的要求,羅德與施瓦茨提供測量方案

        • 1? ?中國5G將呈現(xiàn)2個維度的拓展 對射頻元器件提出更高的要求中國5G 發(fā)展正在從商用化階段過渡到成熟商用化階段。在這個發(fā)展過程中,5G 將呈現(xiàn)2 個維度的拓展。①傳統(tǒng)的5G 基礎(chǔ)體驗,涉及的技術(shù)包括多模多頻、大帶寬、5G 切片、5G 語音、更低的功耗、上下行CA、256QAM 調(diào)制、增強(qiáng)型MIMO 等,涉及的應(yīng)用主要針對手機(jī)等智能終端,例如高速下載、高清視頻、高清語音、云游戲、視頻直播以及V2X 等。這些應(yīng)用將為用戶帶來極致的用戶體驗。② 5G 和垂直行業(yè)的結(jié)合。未來5G 將滲透到
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        5G測試設(shè)備需要高性能的芯片方案

        • 1? ?5G技術(shù)的發(fā)展趨勢5G 技術(shù)日趨成熟,對各類應(yīng)用的支撐作用日漸顯現(xiàn),如工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)、車聯(lián)網(wǎng)、人工智能、遠(yuǎn)程醫(yī)療,數(shù)字化轉(zhuǎn)型等,都要以5G技術(shù)作為技術(shù)保障。在速度更快、延遲更低、容量更大、可靠性更高的5G 技術(shù)背后提供支持的是一系列全新技術(shù),像毫米波、大規(guī)模MIMO和自適應(yīng)波束成形,所有這些技術(shù)都將需要大量更先進(jìn)的基站和客戶設(shè)備。隨著Sub 6G 的普及,未來5G 最實質(zhì)性的變化將是采用毫米波傳輸以及需要大量天線元件的自適應(yīng)波束成形。在蜂窩拓?fù)渲惺褂眠@些頻率具有挑戰(zhàn)性,而且是一個未
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        幾種常見物體在5G頻段的穿透損耗測試分析

        • 穿透損耗取值準(zhǔn)確與否直接影響鏈路預(yù)算結(jié)果,進(jìn)而影響網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃的準(zhǔn)確性。針對目前在5G頻段穿透損耗測試數(shù)據(jù)比較匱乏的問題,本文采用定點測試法分別對門、隔墻、玻璃等常見物體在5G頻段不同場景進(jìn)行了穿透損耗測試,并對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行了分析研究,得到穿透損耗與頻段、材質(zhì)、厚度的關(guān)系,對5G網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃和設(shè)計具有非常重要的參考指導(dǎo)意義。
        • 關(guān)鍵字: 202104  穿透損耗  5G頻段  厚度  材質(zhì)  測試  

        波士頓半導(dǎo)體測試分類機(jī)訂單創(chuàng)新紀(jì)錄 車用與封測市占成長

        • 半導(dǎo)體測試自動化和測試分類機(jī)公司波士頓半導(dǎo)體設(shè)備(BSE)今天宣布其測試分類機(jī)的訂單創(chuàng)下紀(jì)錄。該公司尚未交貨訂單包括現(xiàn)有客戶和新客戶,這些新客戶轉(zhuǎn)購BSE分類機(jī)以獲取更高性能和更好的客戶服務(wù)。BSE的重力分類機(jī)尚未交貨包括車用MEMS、工業(yè)和車用的高壓系統(tǒng),以及封測廠(OSAT)用的標(biāo)準(zhǔn)分類機(jī)。取放分類機(jī)未交貨訂單則主要集中在內(nèi)存和消費應(yīng)用領(lǐng)域。波士頓半導(dǎo)體設(shè)備公司聯(lián)席執(zhí)行長兼總裁Colin Scholefield表示:「我們正在努力縮短交貨時間,以協(xié)助客戶快速提高產(chǎn)量。許多公司之所以與BSE合作,是因為
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        使用SLSC擴(kuò)展PXI和CompactRIO的功能,節(jié)省HIL測試時間并最大化測試復(fù)用率

        • 概述NI SLSC(開關(guān)、負(fù)載和信號調(diào)理模塊)是NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品(如PXI和CompactRIO)的一款附加工具。SLSC可將連接標(biāo)準(zhǔn)化,并提供模塊化方法,適用于信號調(diào)理、故障插入和其他測試需求。本白皮書詳細(xì)介紹了SLSC,以及由NI及其合作伙伴為SLSC模塊及配件創(chuàng)建的豐富生態(tài)系統(tǒng)。什么是SLSC?隨著技術(shù)的進(jìn)步,嵌入式軟件更加普遍地應(yīng)用到一些注重安全性的復(fù)雜系統(tǒng)中,比如汽車和飛機(jī)。硬件在環(huán)(HIL)測試是許多行業(yè)用于測試嵌入式軟件以及模擬系統(tǒng)實際輸入的方法。這種方法可讓測試人員盡早進(jìn)行測試,避免代價高
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        HIL測試:跨行業(yè)解決方法

        • HIL定義HIL是一種嵌入式軟件測試技術(shù),該技術(shù)使用軟件模型來模擬真實的測試系統(tǒng),并連接來自控制器的真實信號,這使控制器誤以為自己安裝在了組裝好的的產(chǎn)品中,然后就像在真實系統(tǒng)中一樣,進(jìn)行測試和設(shè)計迭代。通過這種方式,工程師可以輕松應(yīng)對數(shù)千種可能的情況,正確地運行控制器,節(jié)省物理測試所需的成本和時間。HIL案例企業(yè)使用HIL測試嵌入式軟件,有助于避免各種生產(chǎn)故障,比如油井作業(yè)中因井下工具損壞導(dǎo)致每天100 萬美元的損失、召回數(shù)千臺智能洗衣機(jī)或植入病人的起搏器存在缺陷。對于用戶和開發(fā)這些產(chǎn)品的工程團(tuán)隊而言,這
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        VeriStand硬件在環(huán)軟件入門指南

        • 概述VeriStand是一款提供實時測試應(yīng)用框架的軟件工具,適用于嵌入式軟件驗證以及機(jī)械測試單元應(yīng)用的實時控制與監(jiān)測等應(yīng)用。該軟件包含各種各樣的功能,可幫助您更快地啟動和運行測試。查看本文開始了解VeriStand及其具有的一些內(nèi)置功能。軟件安裝第一步是在Windows計算機(jī)上安裝VeriStand軟件和相關(guān)的驅(qū)動軟件。然后在要部署的所有實時終端上安裝VeriStand引擎軟件。上位機(jī)軟件安裝可使用VeriStand DVD安裝VeriStand,或者從ni.com/veristand/download下
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        兵器裝備集團(tuán),兵器裝備集團(tuán)長安汽車L3級自動駕駛量產(chǎn)型汽車完成路測

        • 近日,兵器裝備集團(tuán)長安汽車L3級自動駕駛系統(tǒng)的量產(chǎn)型汽車在重慶完成自動駕駛測試,標(biāo)志著中國汽車真正從“駕駛輔助”進(jìn)入到“自動駕駛”的新時代。
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        測試介紹

          中文名稱:   測試   英文名稱:   test   定義1:   對在受控條件下運動的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實際實驗。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級學(xué)科);運行、維護(hù)與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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