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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試

        測試 文章 進入測試技術社區

        以軟件為核心的測試系統設計

        • 如今,伴隨著新技術的不斷涌現和各行業新需求的不斷增加,更多差異化產品投放市場的步伐也在不斷加快,這些產品不但集成了更多功能,而且還必須縮減開發周期,以便在與同類產品的競爭中獲得優勢。與此同時,各企業也
        • 關鍵字: 軟件  核心  測試  系統設計    

        選擇測試和測量系統時注意事項

        • 在可用的測試和測量硬件和軟件范圍內進行選擇,對初次用戶和有經驗的用戶來說,都一樣難辦,這是可以理解的。技術的進步使測量和測試方法的發展呈指數方式加快,給用戶提供難以想象的強大系統功能。測試和測量設備跨
        • 關鍵字: 測試  測量系統  注意事項    

        針對納米器件的脈沖I-V測試小技巧

        • 在對納米器件進行電流-電壓(I-V)脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流,因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應。這里,低電平測量技術不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電
        • 關鍵字: I-V  納米器件  脈沖  測試    

        為發射器或組件測試選擇合適的分析儀

        • 目前,市場上有許多可供選擇的分析儀,有些具備非常特殊的專業用途,有些則提供了較多的通用射頻測量能力;有些被稱為頻譜分析儀,有些則被稱為信號分析儀。這些分析儀都是用來測量和顯示信號頻率與幅度之間的關系的
        • 關鍵字: 發射器  測試  分析儀    

        測試測量關鍵基礎之示波器(一)

        • 一、示波器不可不知的問題  Q1: 在高速串行測試時,對測試所需示波器有什么樣的要求?哪幾個指標是最關鍵的 ...
        • 關鍵字: 測試  測量  示波器  

        測試測量設計實例(一)

        • 一、簡易多波形信號發生器電路設計  信號發生器在電子實驗中作為信號源,通常用得多的是正弦波、三角波、 ...
        • 關鍵字: 測試  測量設計  

        IxLoad在WAP網關系統測試中的應用

        • 1 引言移動互聯網用戶在過去的幾年中高速增長,據統計目前全球范圍內移動寬帶用戶數已經超過了有線寬帶用戶數(540M,480M),權威機構預測這個數字在未來的5年內將會達到1.7B。同時,移動互聯網的業務流量也呈現了爆
        • 關鍵字: IxLoad  WAP  網關系統  測試    

        DDR3測試的挑戰及解決方法

        • 前言作為DDR2的繼任者,根據JEDEC標準, 目前DDR3的數據速率跨度從800Mbps開始直至1.6Gbps。在帶給用戶更快性能體驗的同時, DDR3卻能保持較低的功耗,相比DDR2減少約20%。雖然2008年整個DRAM市場低迷,DDR3的出貨量遠
        • 關鍵字: DDR3  測試  方法    

        解析在布線系統測試中遇到的三大疑問

        •  現在由于需要支持10G以太網的測試,各個標準正在對儀器需要的精度進行討論,基本只有達到IV精度的儀器才能支持10G以太網的測試。  但是,現在不論是TIA,ISO還是IEEE,都還沒有對IV精度應該達到什么樣的標準最后定
        • 關鍵字: 布線系統  測試    

        SoC的發展將使測試與測量設備嵌入芯片

        • 復雜 IC 不僅吸引了更多系統,而且還吞食著設計者用于建立、評估與校準芯片的測試設備。要 點芯片設計者正開始在自己的復雜 IC上設計測試與測量儀器。在IC中設計測試儀器的潮流開始于CPU核心與總線的數字調試硬件。現
        • 關鍵字: SoC  發展  測試  測量設備    

        十款主流車型碰撞測試兒童乘員保護評級

        • 又到六一,大家的目光自然又投向了那些祖國的花朵身上。隨著消費者對于汽車安全的日益重視,對兒童的保護已成為衡量一輛車安全與否的重要因素之一。歐洲的EURONCAP試驗、美國的NHTSA(美國公路交通安全局)和IIHS(美國
        • 關鍵字: 測試  保護  評級    

        改進電路設計規程提高可測試性

        • 隨著微型化程度不斷提高,元件和布線技術也取得巨大發展,例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC,以及導體之間的絕緣間距縮小到0.5mm,這些僅是其中的兩個例子。電子元件的布線設計方式,對以后制作流程中的測試能否很
        • 關鍵字: 電路設計  測試    

        綜合儀器方法解決棘手的系統級測試

        • 當今的電子器件和產品在以比以往更快的速度發展,在許多商業應用中,從設計到生產的生命周期縮短到僅有6個月。另外,設備內含和拓撲正從單一向多功能器件轉化進而涉及整個子系統和系統,并常常作為單一方案(例如智能
        • 關鍵字: 儀器  方法  測試  系統級    

        采用多功能混合信號管腳實現汽車IC的高效益低成本

        • 與過去機械系統的改進決定汽車工業的革新不同的是,下一代汽車90%的創新都來自更復雜的集成電路。半導體器件在滿足客戶對汽車功能方面的需求上扮演著非常重要的角色。根據FrostSullivan的數據,西歐的汽車半導體市
        • 關鍵字: 多功能  IC的  測試  混合信號    

        單片機的EMC測試及EMC故障排除方法介紹

        • 摘要:講述EMC的定義,EMC在單片機應用系統的測試方法,EMC新器件新材料的應用以及故障排除技術。只要從事電子產品的研發、生產或者供應,就必須進行EMC電磁兼容的檢測工作。引言所謂EMC就是:設備或系統在其電磁環境
        • 關鍵字: EMC  單片機  測試  故障排除    
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        測試介紹

          中文名稱:   測試   英文名稱:   test   定義1:   對在受控條件下運動的裝備,進行其功能和性能的檢測。   應用學科:   航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。   應用學科:   通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科) [ 查看詳細 ]
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