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        測(cè)試 文章 最新資訊

        主導(dǎo)技術(shù) 測(cè)控必備:新一代產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)

        • 新的測(cè)試需要     對(duì)測(cè)試的需要從來(lái)未象現(xiàn)在這么強(qiáng)烈。隨著創(chuàng)新步伐不斷加快,對(duì)開(kāi)發(fā)出與眾不同的新產(chǎn)品并迅速投入市場(chǎng)的壓力也隨之增大。客戶的期望也在不斷提高,例如在電子領(lǐng)域,要求在更小的空間、以更低的成本,集合多種迥異的功能。過(guò)去三年的經(jīng)濟(jì)衰退不但沒(méi)有阻撓人們對(duì)創(chuàng)新的需要,反而增加資源的投入。目前,滿足這些需要是業(yè)務(wù)取得成功的要素之一;無(wú)論是誰(shuí),只要他能夠最快、最穩(wěn)定、最可靠地滿足這些要求,他就比其他競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手更具有優(yōu)勢(shì)。    &nbs
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        電壓比較器VIO的開(kāi)環(huán)測(cè)試

        • 輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù),GB/T 6798-1996中,將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時(shí),兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備大都采用“被測(cè)器件(DUT,Device Under Test)-輔助運(yùn)放”的測(cè)試模式,測(cè)試原理圖見(jiàn)圖1。     在輔助運(yùn)放A的作用下,整個(gè)系統(tǒng)構(gòu)成穩(wěn)定的閉環(huán)網(wǎng)絡(luò),從而使VD=0,則     VC =&n
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        2005年5月11日,安捷倫在上海成立生命科學(xué)和化學(xué)分析技術(shù)培訓(xùn)中心

        •   5月11日,安捷倫在上海成立全新的生命科學(xué)和化學(xué)分析技術(shù)培訓(xùn)中心。該中心將為亞太區(qū)的科學(xué)家提供適用于食品安全、環(huán)境檢測(cè)、石化檢測(cè)、藥品檢測(cè)和生命科學(xué)方面的主要測(cè)量技術(shù)培訓(xùn)。
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        2005年3月1日,安捷倫在上海建立半導(dǎo)體測(cè)試解決方案研發(fā)中心

        •   3月1日,安捷倫宣布在上海外高橋建立一個(gè)半導(dǎo)體測(cè)試解決方案研發(fā)中心,將負(fù)責(zé)為中國(guó)市場(chǎng)開(kāi)發(fā)量身訂制的半導(dǎo)體測(cè)試解決方案。
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        測(cè)試誤碼率的簡(jiǎn)單裝置

        嵌入式系統(tǒng)的系統(tǒng)測(cè)試和可靠性評(píng)估

        嵌入式微內(nèi)核實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)分析與測(cè)試

        嵌入式軟件的覆蓋測(cè)試

        • 嵌入式軟件的覆蓋測(cè)試,本文著重描述這類工具的工作機(jī)理,以及對(duì)嵌入式軟件測(cè)試的特殊要求,并以對(duì)自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)嵌入式操作系統(tǒng)的測(cè)試為例進(jìn)行說(shuō)明。
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        EL6249C及其在MEMS動(dòng)態(tài)測(cè)試中的運(yùn)用

        用TestStand構(gòu)建通訊產(chǎn)品并行測(cè)試平臺(tái)

        基于NI產(chǎn)品的朗訊CDMA基站測(cè)試軟件平臺(tái)

        三碟DVD/CD機(jī)架模組性能測(cè)試儀的研制

        • 摘 要: 本文介紹了一種以單片機(jī)為核心,對(duì)3碟DVD和CD機(jī)的機(jī)架性能進(jìn)行相關(guān)參數(shù)測(cè)試的儀器,詳細(xì)介紹了該儀器的研制思路,測(cè)量原理和系統(tǒng)軟硬件結(jié)構(gòu)。關(guān)鍵詞: C52;DVD;CD;測(cè)試前言近兩年來(lái),單牒DVD已逐漸發(fā)展到3碟甚至5碟DVD。機(jī)芯的選片機(jī)構(gòu)也變得日益復(fù)雜,為此,機(jī)芯廠家趨向于為客戶提供完整的機(jī)架組件,包含機(jī)芯和全套托盤傳動(dòng)及控制機(jī)構(gòu)。但由于該機(jī)架組件各主要傳動(dòng)部件為塑膠件,易發(fā)生形變,在批量生產(chǎn)時(shí)傳動(dòng)性能不易進(jìn)行控制, 使系統(tǒng)軟件的編寫較難確定合適的參數(shù), 致使成品整機(jī)常出現(xiàn)碟盤轉(zhuǎn)不到位
        • 關(guān)鍵字: C52  CD  DVD  測(cè)試  

        2004年,安捷倫為”火星探測(cè)漫游者”號(hào)通信設(shè)備提供測(cè)試界面

        •   2004年,安捷倫的 Visual Engineering Environment (VEE) Pro 系統(tǒng)開(kāi)發(fā)軟件為”火星探測(cè)漫游者”號(hào)車內(nèi)的通信設(shè)備提供了測(cè)試界面。
        • 關(guān)鍵字: Agilent  測(cè)試  
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        測(cè)試介紹

          中文名稱:   測(cè)試   英文名稱:   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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