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測(cè)試
測(cè)試 文章 最新資訊
主導(dǎo)技術(shù) 測(cè)控必備:新一代產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)
- 新的測(cè)試需要 對(duì)測(cè)試的需要從來(lái)未象現(xiàn)在這么強(qiáng)烈。隨著創(chuàng)新步伐不斷加快,對(duì)開(kāi)發(fā)出與眾不同的新產(chǎn)品并迅速投入市場(chǎng)的壓力也隨之增大。客戶的期望也在不斷提高,例如在電子領(lǐng)域,要求在更小的空間、以更低的成本,集合多種迥異的功能。過(guò)去三年的經(jīng)濟(jì)衰退不但沒(méi)有阻撓人們對(duì)創(chuàng)新的需要,反而增加資源的投入。目前,滿足這些需要是業(yè)務(wù)取得成功的要素之一;無(wú)論是誰(shuí),只要他能夠最快、最穩(wěn)定、最可靠地滿足這些要求,他就比其他競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手更具有優(yōu)勢(shì)。 &nbs
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電壓比較器VIO的開(kāi)環(huán)測(cè)試
- 輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù),GB/T 6798-1996中,將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時(shí),兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備大都采用“被測(cè)器件(DUT,Device Under Test)-輔助運(yùn)放”的測(cè)試模式,測(cè)試原理圖見(jiàn)圖1。 在輔助運(yùn)放A的作用下,整個(gè)系統(tǒng)構(gòu)成穩(wěn)定的閉環(huán)網(wǎng)絡(luò),從而使VD=0,則 VC =&n
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測(cè)試誤碼率的簡(jiǎn)單裝置
- 按照傳統(tǒng),數(shù)字接收機(jī)的接收質(zhì)量是用BER(誤碼率)來(lái)表示的
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試 誤碼率 簡(jiǎn)單裝置
嵌入式微內(nèi)核實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)分析與測(cè)試
- 嵌入式微內(nèi)核實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)分析與測(cè)試,介紹嵌入式微內(nèi)核實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的體系結(jié)構(gòu)。
- 關(guān)鍵字: 分析 測(cè)試 操作系統(tǒng) 實(shí)時(shí) 式微 內(nèi)核 嵌入
三碟DVD/CD機(jī)架模組性能測(cè)試儀的研制
- 摘 要: 本文介紹了一種以單片機(jī)為核心,對(duì)3碟DVD和CD機(jī)的機(jī)架性能進(jìn)行相關(guān)參數(shù)測(cè)試的儀器,詳細(xì)介紹了該儀器的研制思路,測(cè)量原理和系統(tǒng)軟硬件結(jié)構(gòu)。關(guān)鍵詞: C52;DVD;CD;測(cè)試前言近兩年來(lái),單牒DVD已逐漸發(fā)展到3碟甚至5碟DVD。機(jī)芯的選片機(jī)構(gòu)也變得日益復(fù)雜,為此,機(jī)芯廠家趨向于為客戶提供完整的機(jī)架組件,包含機(jī)芯和全套托盤傳動(dòng)及控制機(jī)構(gòu)。但由于該機(jī)架組件各主要傳動(dòng)部件為塑膠件,易發(fā)生形變,在批量生產(chǎn)時(shí)傳動(dòng)性能不易進(jìn)行控制, 使系統(tǒng)軟件的編寫較難確定合適的參數(shù), 致使成品整機(jī)常出現(xiàn)碟盤轉(zhuǎn)不到位
- 關(guān)鍵字: C52 CD DVD 測(cè)試
測(cè)試介紹
中文名稱:
測(cè)試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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