測(cè)試文章最新資訊

NI推出配合LabVIEW觸摸屏模塊的12英寸全新HMI

為系統(tǒng)工程師構(gòu)建LabVIEW邏輯和HMI提供了全新工具美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）最新發(fā)布NI TPC-2012 12英寸觸摸屏計(jì)算機(jī)，可與LabVIEW 8.20觸摸屏模塊（LabVIEW 8.20 Touch Panel Module）協(xié)同工作，將LabVIEW 圖形化開(kāi)發(fā)環(huán)境發(fā)布到Windows CE HMI設(shè)備，更好地幫助控制設(shè)計(jì)工程師進(jìn)行
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基于e語(yǔ)言的驗(yàn)證自動(dòng)化系統(tǒng)

驗(yàn)證技術(shù)的發(fā)展在目前的集成電路設(shè)計(jì)中，芯片的規(guī)模和復(fù)雜程度正呈指數(shù)增加，為保證所設(shè)計(jì)芯片功能的正確性，需要花費(fèi)比以往更多的時(shí)間和人力，困難度大幅增加。而且，目前的功能驗(yàn)證能力已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于設(shè)計(jì)能力，功能驗(yàn)證正成為大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)的瓶頸。設(shè)計(jì)人員通常需要花費(fèi)50%~70%的時(shí)間去驗(yàn)證他們的設(shè)計(jì)。雖然有形式驗(yàn)證等多種驗(yàn)證方法可供選擇，但是設(shè)計(jì)者還是偏好基于仿真的驗(yàn)證，本文中的驗(yàn)證主要是指仿真。為了降低驗(yàn)證的工作量和提高驗(yàn)證的效率，越來(lái)越多的設(shè)計(jì)人員采用高級(jí)驗(yàn)證語(yǔ)言(HLV)來(lái)進(jìn)行芯片驗(yàn)證。 &
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安捷倫推出J-BERT軟件最新版本全面測(cè)試抖動(dòng)容限

　　Agilent發(fā)布4.5版本的Agilent J-BERT N4903A高性能串行BERT軟件，使測(cè)試工程師能夠以最快速度獲得抖動(dòng)容限測(cè)試結(jié)果。　　在計(jì)算機(jī)、存儲(chǔ)和通信等行業(yè)中，新一代多千兆位設(shè)備正方興未艾。設(shè)計(jì)和驗(yàn)證人員需要新的測(cè)試工具，以便高效、精確地對(duì)這些高速接口進(jìn)行表征和一致性測(cè)試。　　屢獲殊榮的Agilent J-BERT可顯著改善這些千兆位接收機(jī)的抖動(dòng)容限測(cè)試。J-BERT是業(yè)界唯一一款全面的抖動(dòng)容限測(cè)試解決方案，使用經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的內(nèi)置抖動(dòng)源。自動(dòng)抖動(dòng)容限測(cè)試
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電子測(cè)量?jī)x器及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的新概念和新趨勢(shì)

前　言進(jìn)入21 世紀(jì)以來(lái)，科學(xué)技術(shù)的發(fā)展已難以用日新月異來(lái)描述。新工藝、新材料、新的制造技術(shù)催生了新的一代電子元器件，同時(shí)也促使電子測(cè)量技術(shù)和電子測(cè)量?jī)x器產(chǎn)生了新概念和新發(fā)展趨勢(shì)。本文擬從現(xiàn)代電子測(cè)量?jī)x器發(fā)展的三個(gè)明顯特點(diǎn)入手，進(jìn)而介紹下一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的概念和基本技術(shù)，引入合成儀器的概念，以供讀者參考。現(xiàn)代電子測(cè)量?jī)x器的發(fā)展趨勢(shì) 儀器性能更加優(yōu)異儀器的性能更加優(yōu)異，測(cè)量功能更加強(qiáng)大，儀器的測(cè)量精度，測(cè)試靈敏度，測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍等都達(dá)到了前所未有的高度。例如，Agilent 公司的PSA 頻
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電信網(wǎng)中業(yè)務(wù)沖突檢測(cè)的研究

早在20世紀(jì)80年代，貝爾實(shí)驗(yàn)室就首次提出了業(yè)務(wù)沖突問(wèn)題。根據(jù)ITU-T對(duì)業(yè)務(wù)沖突的描述，業(yè)務(wù)沖突是指一個(gè)業(yè)務(wù)邏輯實(shí)例對(duì)另一業(yè)務(wù)邏輯實(shí)例或?qū)ν粯I(yè)務(wù)邏輯的不同業(yè)務(wù)邏輯實(shí)例的不利影響。實(shí)際電信網(wǎng)中的業(yè)務(wù)沖突可以理解為電信業(yè)務(wù)在實(shí)現(xiàn)時(shí)的相互干擾。 1、CPN Tools概述 Petri網(wǎng)是一種既具有圖形表達(dá)能力又具有嚴(yán)格數(shù)學(xué)定義的模擬工具，CPN（Colored Petri Nets）則是對(duì)它的一種擴(kuò)展。CPN適用于對(duì)具有并發(fā)性和分布式特點(diǎn)的電信系統(tǒng)進(jìn)行圖形化建模，并描述系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特征。
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Catalyst新增了三個(gè)包含最寬選擇范圍的嵌入式存儲(chǔ)器系列電壓監(jiān)控器件

　Catalys新推出了三個(gè)系列的電壓監(jiān)控器件，它們包含業(yè)內(nèi)最寬選擇范圍的嵌入式存儲(chǔ)器。CAT130xx系列具有1-，2-，4-，8-或16-kbit Microwire串行接口的嵌入式 EEPROM。CAT140xx和CAT150xx系列則具有2-，4-，8-或16-kbit I2C和SPI串行接口的嵌入式EEPROM。　　這三種新的電壓監(jiān)控器件系列產(chǎn)品為2.5V，3V，3.3V和5V系統(tǒng)提供在2.32V到4.63V之間的7個(gè)復(fù)位門(mén)限。復(fù)位輸出可以是CMOS低電平或CMO
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NI推出專(zhuān)用于LEGO MINDSTORMS NXT玩具機(jī)器人的LabVIEW工具包

　　NI推出專(zhuān)用于LEGO® MINDSTORMS® NXT玩具機(jī)器人的LabVIEW工具包。通過(guò)這個(gè)最新的工具包，LabVIEW用戶可以創(chuàng)建并下載VI，來(lái)操作和控制MINDSTORMS NXT機(jī)器人平臺(tái)，第三方軟硬件開(kāi)發(fā)者也可以使用這一工具為MINDSTORMS NXT軟件創(chuàng)建本地模塊。LEGO MINDSTORMS NXT是樂(lè)高玩具公司于2006年8月推出的廣受歡迎的新一代玩具機(jī)器人系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括一個(gè)由NI開(kāi)發(fā)、且基于Lab
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NI發(fā)布PCI和PCI Express總線的高性價(jià)比6½位數(shù)字萬(wàn)用表

　NI推出新的基于PCI和PCI Express總線的高性價(jià)比6½位數(shù)字萬(wàn)用表（DMM）PCIe-4065，擴(kuò)展了其DMM產(chǎn)品線。NI PCIe-4065 DMM是業(yè)界首款基于PCI Express總線的DMM；PCI-4065 DMM可以測(cè)量DC或AC電壓/電流、2-線和4-線電阻，也可以測(cè)試二極管，適用于教育類(lèi)實(shí)驗(yàn)室、需要考慮成本的測(cè)試和測(cè)量機(jī)構(gòu)，以及要將DC或AC測(cè)量嵌入到終端產(chǎn)品或測(cè)試系統(tǒng)的OEM廠商。這些全新的DMM填補(bǔ)了NI&nb
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奧地利微電子推出低壓微處理器監(jiān)測(cè)電路

AS1907-09系列可在最低輸入電壓條件下提供精確的系統(tǒng)監(jiān)測(cè) 奧地利微電子公司（austriamicrosystems）宣布推出AS1907-09系列微處理器監(jiān)控IC，以擴(kuò)展監(jiān)測(cè)電路產(chǎn)品線。新產(chǎn)品非常適用于監(jiān)測(cè)電源電壓在 1.8V 至 3.3V 之間的系統(tǒng)。奧地利微電子公司標(biāo)準(zhǔn)線性部市場(chǎng)總監(jiān)Walter Moshammer 表示：“這些小體積低功耗的微處理器復(fù)位電路無(wú)需額外的元件，且僅消耗2.4µA的靜態(tài)電流，使AS1907-09
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奧地利微電子推出低壓微處理器監(jiān)測(cè)電路

AS1907-09系列可在最低輸入電壓條件下提供精確的系統(tǒng)監(jiān)測(cè) 奧地利微電子公司（austriamicrosystems）宣布推出AS1907-09系列微處理器監(jiān)控IC，以擴(kuò)展監(jiān)測(cè)電路產(chǎn)品線。新產(chǎn)品非常適用于監(jiān)測(cè)電源電壓在 1.8V 至 3.3V 之間的系統(tǒng)。奧地利微電子公司標(biāo)準(zhǔn)線性部市場(chǎng)總監(jiān)Walter Moshammer 表示：“這些小體積低功耗的微處理器復(fù)位電路無(wú)需額外的元件，且僅消耗2.4µA的靜態(tài)電流，使AS1907-09
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Microchip 推出 MPLAB® REAL ICE™仿真系統(tǒng)

為 Microchip PIC®單片機(jī)及 dsPIC®數(shù)字信號(hào)控制器提供全速、低成本仿真功能 Microchip Technology（美國(guó)微芯科技公司）近日宣布推出 MPLAB REAL ICE 仿真系統(tǒng)，為采用其 PIC 單片機(jī)和dsPIC 數(shù)字信號(hào)控制器（DSC）進(jìn)行應(yīng)用開(kāi)發(fā)的客戶創(chuàng)優(yōu)增值。該系統(tǒng)為Microchip 的高速單片機(jī)和DSC提供低成本的新一代仿真支持
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基于單片機(jī)的車(chē)載超級(jí)電容測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

伴隨著科技的進(jìn)步，電動(dòng)汽車(chē)技術(shù)得到迅速的發(fā)展，相比內(nèi)燃機(jī)汽車(chē)，電動(dòng)汽車(chē)具有零排放、高性能效率、低噪聲、低熱輻射、易操縱和易維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)，將是未來(lái)汽車(chē)發(fā)展的方向，也是現(xiàn)行研究的熱點(diǎn)。電動(dòng)汽車(chē)的動(dòng)力電池有如下三類(lèi)：燃料電池、蓄電池和超級(jí)電容。燃料電池、蓄電池和超級(jí)電容在能量密度和功率密度上有互補(bǔ)性[1]。單一使用蓄電池、繞料電池或者超級(jí)電容，難以用作電動(dòng)汽車(chē)的動(dòng)力源?；旌想姵厥且槐容^理想的解決方法，采用混合電池驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，特別利用超級(jí)電容快速充放電能實(shí)現(xiàn)汽車(chē)制動(dòng)能量回收，以及燃料電池超大能量密度支持汽車(chē)持久行駛，
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NI連續(xù)八年上榜《財(cái)富》雜志“全美最適合工作的百家公司”

美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）連續(xù)第八年榮登《財(cái)富》雜志“全美最適合工作的百家公司”榜單。這一覆蓋美國(guó)全國(guó)范圍的年度調(diào)查的對(duì)象是各公司員工，通過(guò)他們了解各公司文化和整體質(zhì)量。NI上榜的關(guān)鍵理由在于：輕松的工作氛圍受到員工們的一致推崇。 “我在30年前創(chuàng)建公司的時(shí)候，就決心不但要在商業(yè)上獲得成功，而且要推動(dòng)一個(gè)既有趣又具有挑戰(zhàn)性的工作環(huán)境，能讓員工們每天很高興地來(lái)上班?！盢I創(chuàng)始人、主席兼CEO James Truchard博士表示“
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NI發(fā)布Measurement Studio 8.1，進(jìn)一步簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作

工程師們現(xiàn)在可以輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)于分布式測(cè)試系統(tǒng)的遠(yuǎn)程監(jiān)控美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）宣布了Measurement Studio8.1版本的發(fā)布，這是一套基于Micorsoft Visual Studio，并專(zhuān)用于測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化應(yīng)用的完整類(lèi)庫(kù)和用戶界面控件。Measurement Studio 8.1簡(jiǎn)化和加速了使用全新網(wǎng)絡(luò)變量的遠(yuǎn)程監(jiān)控過(guò)程，這些網(wǎng)絡(luò)變量幫助工程師在Microsoft&n
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NI軟硬件產(chǎn)品率先支持全新的Windows Vista操作系統(tǒng)

圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)的領(lǐng)先者美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）宣布其用于測(cè)試、控制和嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的圖形化設(shè)計(jì)平臺(tái)NI LabVIEW, 以及其他NI 應(yīng)用軟件和設(shè)備驅(qū)動(dòng)均提供與Windows Vista的兼容特性。Windows Vista是微軟即將于2007年初發(fā)布的Windows操作系統(tǒng)的最新版本，它對(duì)工程和科學(xué)應(yīng)用有顯著影響的更新和變動(dòng)，包括注重于安全性的增加，搜索能力的加強(qiáng)，附加的應(yīng)用編程接口（APIs
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測(cè)試介紹

　　中文名稱(chēng)：　　測(cè)試　　英文名稱(chēng)：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]