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        測試測量技術發展趨勢

        作者:徐赟 NI中國技術市場工程師 時間:2009-06-15 來源:電子產品世界 收藏

          現在,提供的R系列數據采集和FlexRIO產品家族將高性能的FPGA集成到現成可用的I/O 板卡上,供用戶根據應用進行定制和重復配置,同時配合 FPGA直觀方便的圖形化編程,用戶能夠在無需編寫底層VHDL代碼的情況下,快速地配置和編程FPGA的功能,用于自動化測試和控制應用(見圖3)。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/95265.htm

          前段時間,歐洲核子研究中心(CERN)為世界最強大的粒子加速度器——大型強子對撞機(LHC)配備了超過120套帶有可重復配置I/O模塊的 PXI系統,用于控制瞄準儀的運動軌跡和監測其實時位置,從而確保粒子在既定的路徑中運作。為了保證極高的可靠性和精確性,FPGA成為其必備的測試和控制技術。

          隨著對FPGA技術應用復雜性的簡化,可以預計,擁有高性能和靈活性的FPGA技術將越來越多地被應用于未來的儀器系統中。

          趨勢四:無線標準測試的爆炸性增長

          近年來無線通信標準的發展可謂是日新月異,從2000年前只有四五種的無線標準到現在眾多新標準如雨后春筍般涌現。越來越多的消費電子產品和工業產品都或多或少地集成了無線通信的功能,像蘋果公司最新的3G版手機,更是同時集成了UMTS, , GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和藍牙等多種最新的無線標準。這些都給無線技術的開發和測試帶來了巨大的挑戰,測試技術如何跟上無線技術的發展成為工程師面臨的最大難題。通常傳統射頻儀器的購買周期是5~7年,而新標準和新技術的推出周期卻是每兩年一輪,購買的射頻測試設備由于其固件和功能的限定通常難以跟上新標準的發展速度。



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