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        準諧振工作的反激轉(zhuǎn)換器(04-100)

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        作者:安森美半導(dǎo)體 Nicolas CYR 時間:2008-03-28 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          較弱的EMI特征波形

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/80832.htm

          控制正弦波(或接近正弦波)的變量所提供的頻譜分量總是比硬開關(guān)系統(tǒng)所提供的更窄。圖6和圖7描述了兩個工作在同一點上但采用不同開關(guān)技術(shù)的系統(tǒng)所呈現(xiàn)的傳導(dǎo)EMI特征波形。

          由于MOSFET在漏極電平最低時重新啟動,因而此處不存在在開關(guān)閉合時放電的經(jīng)典COSS電容,而且極窄的峰值電流也已經(jīng)消失(當其足夠大時,該峰值也往往會干擾電流檢測比較器,甚至存在LEB電路的情況下亦不可避免)。因此,當開關(guān)模式電源(SMPS)需要在射頻部分附近工作時,尤其是在電視機底板應(yīng)用中,推薦采用準方波轉(zhuǎn)換器。

          檢測磁芯去磁事件

          磁芯去磁檢測通常通過專用的輔助繞組來實現(xiàn),其電壓波形直接與變壓器磁通相關(guān):VAUX=dF/dt。取決于控制器設(shè)備,觀察到的信號的極性必須與其檢測電路相適應(yīng)。

          圖8給出了采用反激和正激繞法的輔助繞組所發(fā)出的去磁信號的實例。

          請注意,這種技術(shù)并非用來檢測磁芯去磁或谷點,而是檢測輔助電壓的過零點,即VDRAIN=VIN。為了檢測真正的谷點,檢測中必須增加一個延遲。實際上,是在此輔助信號和控制器的輸入引腳之間增加一個小的RC濾波器:除了確保在谷點處導(dǎo)通所需的延遲之外,它也可濾除對重新啟動控制器產(chǎn)生負面影響的漏感因素。

          當輔助繞組同時被用來對控制器供電時,正激類型將施加一個額外的限制,因為電源電壓和VIN成正比:控制器的電源電壓范圍必須足夠?qū)?,以適應(yīng)VAUX較大的變化。



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