惠瑞捷增加并行機制以縮減存儲器測試開發時間

　　惠瑞捷半導體科技宣布將可編程接口矩陣應用于Verigy V5000e 工程工作站，以幫助存儲器制造商在應用V5000e進行工程，測試開發和調試時獲得并行測試能力。憑借該矩陣，V5000e 可以并行測試12顆芯片（DUT），減少產線上的操作人員的時間，同時大幅度提高了總產能。此矩陣還將V5000e的引腳數量從128提高到768個測試器資源引腳，從而能夠測量具有更高引腳數量的多種類型存儲器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。

　　由于產品壽命周期不斷縮短，制造商需要將測試開發時間降至最低。同時，各種存儲器芯片在測試平臺上有了更多的融合。為了應對測試所有這些類型芯片所面臨的挑戰，制造商需要面向工程開發的測試系統具有并行能力和靈活性。然而，在工程開發的環境下，如果使用成熟的面向大規模生產的測試系統既不能節省成本，通常也不符合實際。配備了矩陣的V5000e 就可以應對這些挑戰，降低測試開發時間。

　　此矩陣最初的設計目的是為了在最終產品測試階段降低測試成本，到目前為止，此矩陣僅配備在Verigy V5500 最終測試系統上。惠瑞捷開發出應用于V5000e的新版本  
的矩陣，以滿足在測試開發設置方面對強大且靈活的解決方案日益增長的需求，這些解決方案可以處理多種存儲器類型，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。 

　　V5000e于2005年開始供貨，作為領先的工程工作站，用于測試所有的存儲器類型，它具備可升級的平臺構架，擁有辦公環境設計，以及工程開發所必需的強大功能和靈活性。 

　　先進特性——擁有最大的投資回報和更低的測試成本

　　憑借該矩陣，V5000e提供給用戶可擴展的功能和性能，現已可并行測試12顆芯片(DUT)。此矩陣在 V5000e 測試系統的基礎上將引腳數量由128個輸入/輸出引腳增加到768個測試器資源引腳，能夠完成具有更高引腳數量存儲器的測試。它所提供的靈活性將與V5000e一起共同滿足當前以及新興的測試系統需求。

　　此矩陣允許測試儀器在引腳間自動轉換資源，而無需手動重新插入，這樣既縮短了總體測試時間，也降低了必要的手動干預次數。當測試MCP設備時該特性尤為重要，因為在串行測試的時候，測試資源可以在MCP中不同元件之間自動轉移，而無需手動重新插入。對于需要花費很久時間的寫入和擦除二項測試項目，測試系統資源可以自動并行測試，然后轉換回串行模式讀取測試。

　　此矩陣支持用戶在極熱和極冷的環境測試艙中擴展其測試可用性。