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        并行機制 文章 最新資訊

        惠瑞捷增加并行機制以縮減存儲器測試開發時間

        •   惠瑞捷半導體科技宣布將可編程接口矩陣應用于Verigy V5000e 工程工作站,以幫助存儲器制造商在應用V5000e進行工程,測試開發和調試時獲得并行測試能力。憑借該矩陣,V5000e 可以并行測試12顆芯片(DUT),減少產線上的操作人員的時間,同時大幅度提高了總產能。此矩陣還將V5000e的引腳數量從128提高到768個測試器資源引腳,從而能夠測量具有更高引腳數量的多種類型存儲器芯片,包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。   由于產品壽命
        • 關鍵字: 并行機制  測量  測試  存儲器測試  單片機  惠瑞捷  開發時間  嵌入式系統  存儲器  
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        并行機制介紹

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